Occasion RUDOLPH FE VII D #9097167 à vendre en France

RUDOLPH FE VII D est un ellipsomètre conçu pour la caractérisation de couches minces et de surfaces. Il utilise à la fois le haut débit et l'éclairage monochromatique pour mesurer le degré de polarisation de la lumière rétrofléchie. Les données acquises peuvent ensuite être utilisées pour caractériser des couches minces et des surfaces, y compris des constantes diélectriques, une épaisseur de couche et une anisotropie optique. RUDOLPH FE VIID dispose d'un processeur de signal numérique très avancé avec quatre processeurs synchronisés, permettant simultanément des mesures d'ellipsométrie dans jusqu'à 16 fréquences jusqu'à la longueur d'onde de 400nm ainsi que d'assurer une haute précision et répétabilité. Il dispose d'un logiciel intégré qui permet aux utilisateurs de créer facilement des fonctions analytiques et d'acquérir des données fiables et précises. Il prend également en charge l'imagerie multispectrale, permettant aux utilisateurs de collecter une matrice complète de paramètres avec un seul balayage. La conception robuste et durable de FE-VIID comprend un cadre en aluminium, une plinthe en acier inoxydable résistant à la corrosion et une table spécialisée pour le montage de composants de polarisation. La conception compacte permet également une intégration facile dans les processus existants et les suites d'instruments. L'intégration comprend une variété d'interfaces, telles que WLAN et Ethernet, qui rendent la collecte et le stockage des données à distance rapide et pratique. RUDOLPH FE-VIID est disponible avec plusieurs paquets d'analyse optionnels, y compris un paquet de stress de film dédié. Ce paquet offre aux utilisateurs une combinaison unique de mesures d'ellipsométrie, de représentations graphiques et de calculs des paramètres de contraintes des couches minces. Il comprend également un outil de cartographie des paramètres de contrainte, idéal pour le balayage et la caractérisation de grandes surfaces. Enfin, FE VIID dispose d'un système de démarrage souple, ce qui réduit considérablement le temps d'installation nécessaire pour mesurer les échantillons. De plus, le système de positionnement et de réglage des échantillons très précis permet un alignement rapide et pratique des échantillons, réduisant considérablement le temps nécessaire pour effectuer des mesures ellipsométriques.