Occasion RUDOLPH FE VII D #9171333 à vendre en France

RUDOLPF RUDOLPH FE VII D est un ellipsomètre conçu pour des mesures très précises de l'épaisseur des couches minces et de l'indice de réfraction. C'est un outil optique rapide et fiable pour l'optique et les mesures de couches minces. Il utilise un interféromètre optique à double faisceau et un polariseur linéaire pour mesurer les angles de réflexion ellipsométriques pour une surface d'échantillon. Ceci permet une détermination plus précise de l'épaisseur et de l'indice de réfraction des films sous observation. RUDOLPF RUDOLPH FE VIID est un ellipsomètre de modélisation compact offrant une excellente précision et précision. Il est conçu pour mesurer avec précision des films aussi minces que 10nm d'épaisseur et convient pour des applications de couches minces multicouches telles que les revêtements optiques, les dispositifs semi-conducteurs et les MEMS. Il convient pour des mesures de qualité, de production ou de contrôle de qualité. L'équipement du RUDOLPF FE-VIID se compose de quatre composants principaux : source lumineuse, polariseur linéaire, séparateur de faisceau et détecteur. La source lumineuse est généralement un laser HeNe monochromatique, produisant une lumière laser polarisée continue. Le polariseur linéaire est utilisé pour assurer un faisceau polarisé linéairement à l'échantillon. Le séparateur de faisceau est un miroir dichroïque, qui divise le faisceau incident en deux composantes perpendiculaires - s et p parties polarisées. Ces deux faisceaux sont réfléchis à partir de la surface de l'échantillon et détectés par le détecteur pour mesurer les propriétés optiques de l'échantillon. Le RUDOLPF RUDOLPH FE-VIID utilise une technique de mesure différentielle pour mesurer les propriétés optiques de la surface. Le système mesure l'angle de variation de polarisation de la lumière réfléchie, tandis que l'intensité de la surface de l'échantillon peut également être mesurée à l'aide de la technique de réflexion-transmission. L'information sur l'angle de réflexion est utilisée pour déterminer l'indice de réfraction et l'épaisseur de l'échantillon. Les données générées par l'unité servent à caractériser les propriétés physiques des couches minces. RUDOLPF FE VIID utilise une interface utilisateur graphique (GUI) qui permet aux utilisateurs de configurer, contrôler et analyser les mesures rapidement et intuitivement. L'interface graphique fonctionne sur les systèmes d'exploitation Windows 7/8, et est conçu pour les utilisateurs novices et expérimentés. En plus de l'interface graphique, la machine comprend une variété de modules de mesure, d'analyse et d'intégration qui facilitent l'acquisition, l'interprétation, la corrélation et la modélisation des échantillons de couches minces. Le RUDOLPF FE VII D est un outil d'analyse optique idéal pour la recherche et les applications industrielles. Il est compact et léger, ce qui le rend particulièrement utile pour la surveillance des processus et les applications de contrôle de la qualité. Grâce à une précision et une rapidité supérieures, il est bien adapté à une variété de mesures d'échantillons, permettant aux chercheurs et aux ingénieurs d'obtenir des informations précieuses sur leurs échantillons.