Occasion RUDOLPH FE VII D #9284351 à vendre en France

RUDOLPH FE VII D
Fabricant
RUDOLPH
Modèle
FE VII D
ID: 9284351
Ellipsometer.
RUDOLPH FE VII D est un polarimètre optique elliptique avancé conçu pour mesurer les propriétés optiques des couches minces et des surfaces stratifiées avec un degré élevé de précision. Cet instrument est une plate-forme spectroscopique multi-longueurs d'onde très sensible qui utilise un polarimètre circulaire pour mesurer les propriétés de transmission et de réflexion des couches minces et des empilements multicouches. En utilisant la polarisation incident circulaire, ce dispositif mesure également les indices optiques de réfraction, de coefficient d'extinction, d'épaisseur de film, de rugosité de surface et de structure de couche. Il est équipé d'une gamme de capacités incluant les suivantes : Un polariseur incident à angle variable pour mesurer les paramètres du film et du substrat à une longueur d'onde variable. Mesures résolues spectralement pour déterminer les constantes optiques, les paramètres du film et du substrat, et la rugosité de l'interface. Capacité de mesurer des échantillons complexes de couches et d'interfaces avec des couches d'absorption élevée. Spectromètre à large bande à haute résolution pour déterminer les propriétés optiques et structurelles des surfaces de films. Une caméra intégrée pour l'inspection visuelle de l'échantillon. Une LED programmable pour l'éclairage des surfaces de l'échantillon. Un système laser à balayage pour mesurer l'épaisseur du film sur une large gamme de longueurs d'onde. Logiciel spécialisé pour l'analyse et l'interprétation de données telles que le montage de film puissant et la reconnaissance de motifs. En utilisant ces fonctionnalités, RUDOLPH FE VIID fournit aux utilisateurs une évaluation rapide, précise et fiable des propriétés optiques et structurelles des films minces et des interfaces. Cet instrument peut être utilisé pour analyser une variété de matériaux tels que les métaux, les oxydes, les polymères et les semi-conducteurs. De plus, il offre un faible coût, une haute résolution et une caractérisation optique précise de l'échantillon. Avec son large éventail de capacités et de performances, FE-VIID peut répondre à un large éventail d'exigences de recherche et réduire considérablement le temps nécessaire pour découvrir et identifier les propriétés optiques des surfaces d'échantillons.
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