Occasion RUDOLPH FE VII #182438 à vendre en France

RUDOLPH FE VII est un ellipsomètre, un dispositif utilisé pour mesurer les phénomènes optiques d'épaisseur de film de surface, de biréfringence, de constantes optiques et d'indice de réfraction. Il est capable de mesurer les variations de polarisation de la lumière sous de petits angles (jusqu'à 0,05 degrés). RUDOLPH FEVII fonctionne sur une source SOLA de Lumencor, une source lumineuse en régime permanent dotée de la technologie LED. La LED illumine l'échantillon avec un angle d'incidence compris entre 0 et 87 degrés. Pour mesurer les changements de polarisation lumineuse, on utilise une lame quart d'onde et un polariseur. Les données sont collectées sous l'angle d'incidence et recueillies sous la forme de matrices de Mueller. FE-VII est habituellement utilisé pour la caractérisation des propriétés des couches minces et des propriétés optiques des échantillons transparents. Il peut être utilisé pour diverses applications telles que la mesure des propriétés optiques des liquides, des gaz, des cristaux et des revêtements. De plus, RUDOLPH FE-VII est capable d'analyser les couches de couches minces nanométriques. Les mesures précises peuvent fournir un aperçu approfondi de la structure du film, de sa composition et de sa fluidité. FE VII est extrêmement polyvalent, car il peut être configuré pour fonctionner dans une variété de paramètres. Par exemple, il peut être utilisé dans les modes de réflexion et de transmission sur divers matériaux, y compris des lames de verre et des plaquettes de silicium. Les échantillons peuvent être mesurés dans un système de coordonnées polaires, avec une gamme d'angles d'incidence, de 0 à 87 degrés. De plus, FEVII est également capable d'analyser les propriétés des échantillons multicouches avec des profils d'indice de réfraction et d'épaisseur inter-couches. RUDOLPH FE VII est équipé de divers accessoires pour maximiser la précision et la précision des mesures. Il utilise des logiciels pour fournir une analyse complète des données et la visualisation des données. Ce logiciel permet également aux utilisateurs d'obtenir rapidement les informations dont ils ont besoin. De plus, un Ellipsomètre Spectral spécial est disponible, qui permet de mesurer la réponse spectrale des couches minces sur une large gamme de longueurs d'onde (350nm-1100nm). RUDOLPH FEVII est un outil essentiel pour obtenir des mesures rapides et précises des couches minces. Il est extrêmement polyvalent, capable de mesurer les propriétés des couches minces et les propriétés optiques d'un large éventail d'échantillons. Il est équipé de plusieurs accessoires pour maximiser la précision et la précision. Cet appareil fournit une analyse rapide et complète des données, permettant aux utilisateurs d'obtenir rapidement les données dont ils ont besoin. En outre, sa compatibilité avec un ellipsomètre spectral offre d'autres capacités de mesure.