Occasion RUDOLPH FE VII #293647734 à vendre en France

RUDOLPH FE VII est un ellipsomètre conçu pour mesurer les paramètres optiques, tels que l'indice de réfraction et l'épaisseur optique, des couches minces et des surfaces. L'appareil est une version améliorée du très réussi RUDOLPH FE-VI, qui a fourni des mesures fiables et précises depuis plus de 20 ans sur une multitude d'échantillons. RUDOLPH FEVII présente un certain nombre de caractéristiques distinctives : Le logiciel contrôlé par microprocesseur assure une collecte de données précise Le mode de conception unique permet de compenser automatiquement les inclinaisons et excentricités du plan de l'échantillon Le mode de mesure rapide permet des mesures plus rapides et réduit le nombre de mesures requises Deux configurations de champ de vision sont disponibles : 2,5 mm et 0,5 mm. Les sélections de longueurs d'onde sont librement accessibles dans la gamme de 300 à 800 nanomètres. Le mode haute sélectivité permet de mesurer simultanément les polarisations linéaires et circulaires, suppression de la nécessité de mesures séparées La collecte automatisée de données est possible en utilisant le mode de collecte de données optionnel Le mode de mesure automatisé multiple breveté est un outil inestimable pour mesurer plusieurs échantillons sans avoir à mettre en place une nouvelle expérience, permettant une collecte de données beaucoup plus rapide Le mode breveté de mesure à distance est unique à FE-VII, permettant de mesurer des échantillons dont les paramètres optiques dépassent la plage généralement mesurée par les ellipsomètres. Des plages de température et de pression étendues sont disponibles pour une utilisation avec d'autres équipements Les données enregistrées dans le RUDOLPH FE-VII sont facilement transférées dans divers formats d'analyse, y compris ASCII, ISO 16487, et JIS X 0401 Les nombreuses fonctionnalités combinées à des logiciels avancés font de FEVII un outil polyvalent pour un large éventail de matériaux dans les domaines de la physique, l'optomécanique, l'ingénierie optique, et plus encore. Avec son extrême précision, ses systèmes de contrôle précis et ses plages de température et de pression étendues, FE VII peut mesurer avec précision des échantillons de structures et de surfaces même complexes, ce qui en fait un outil précieux pour la R-D et la caractérisation des échantillons.