Occasion RUDOLPH FE VII #9083744 à vendre en France

RUDOLPH FE VII est un ellipsomètre de haute précision et répétable de mesure avancé qui fournit un outil puissant pour mesurer les couches minces et l'épaisseur du substrat. Cet ellipsomètre est capable de mesurer l'épaisseur de films de n'importe quel matériau de 1 nanomètre à 1 micron, avec une précision de 0,2 nm. Il est conçu pour mesurer à la fois l'absorption optique et la transmission de l'épaisseur du film sur une large gamme de longueurs d'onde. Ceci le rend idéal pour analyser les propriétés optiques des couches minces. RUDOLPH FEVII Ellipsomètre est un modèle multifonctionnel qui utilise une technologie de pointe pour fournir des résultats précis de mesure de couches minces. En plus de fournir une mesure précise de l'épaisseur du film, il peut également mesurer ses performances optiques. Cet instrument est un outil fiable pour examiner des films optiques, des composants optiques et d'autres composants du système optique, utilisés dans les applications de recherche et de développement. L'instrument est livré avec un logiciel intuitif compatible WindowsMD XP, qui permet aux utilisateurs de saisir et de stocker facilement les données de film, d'analyser les données pour calculer l'épaisseur, et de calculer l'absorption optique. L'ellipsomètre FE-VII est capable de mesurer plusieurs paramètres dont l'épaisseur du film optique, l'absorption optique, la quantité de lumière transmise, la polarisation, la réflectivité et la diffusion. Les résultats expérimentaux traités peuvent être utilisés dans diverses applications, telles que la conception de dispositifs optiques, les sciences des matériaux et la recherche de dispositifs semi-conducteurs. FEVII a une faible consommation d'énergie et contient sa propre alimentation PC, ce qui en fait un appareil portable pratique. La fonction de compensation de température permet à l'utilisateur de régler la résolution de pas et la vitesse de balayage sans affecter la précision des lectures. Ce modèle très précis est également conçu avec un mandrin amovible pour un chargement facile, ce qui profite davantage aux applications de recherche et de développement. FE VII Ellipsomètre est un instrument très fiable mais très abordable pour la mesure précise des couches minces. La combinaison de la précision, la répétabilité et la polyvalence en font également un outil de choix pour de nombreuses applications d'analyse optique. En outre, le logiciel facile à utiliser fournit une solution simple pour le stockage, le traitement et l'analyse des données. Avec ses fonctionnalités avancées, ce modèle offre une excellente valeur aux utilisateurs qui ont besoin d'un instrument précis et efficace pour mesurer les couches minces et les composants optiques.