Occasion RUDOLPH FE VII #9097169 à vendre en France

RUDOLPH FE VII est un ellipsomètre qui fournit une solution efficace et rentable pour caractériser les propriétés optiques des couches minces. Contrairement aux systèmes d'ellipsométrie traditionnels, RUDOLPH FEVII ne nécessite pas plusieurs composantes lumineuses, il offre une approche plus simple et simplifiée de la métrologie optique. L'équipement offre également une précision supérieure, avec une erreur inférieure à 0,05 °, en raison de sa conception optique et mécanique précise. Ceci le rend idéal pour des applications telles que la surveillance de l'épaisseur du film, la détermination de l'indice de réfraction, les fonctions diélectriques et les mesures de réactivité de surface. FE-VII est un ellipsomètre spectroscopique à source unique, qui intègre une source de lumière interférométrique et un séparateur de faisceau de surface. La source de lumière interférométrique permet au système de mesurer à la fois les angles spectraux et les intensités, produisant des mesures très précises et répétables. Le séparateur de faisceau de surface, en revanche, permet à l'unité de mesurer à la fois les champs lumineux s et p polarisés. Ceci est rendu possible grâce à la combinaison d'un séparateur de faisceau à maintien de polarisation et d'un analyseur réglable. RUDOLPH FE-VII dispose également de modules d'analyse et de quasi-optique REFLEX OMS. Le module REFLEX OMS permet aux utilisateurs d'acquérir des informations sur les systèmes à couches minces, tels que les matériaux optiquement anisotropes, les couches inhomogènes et les interfaces enterrées. Pendant ce temps, le module Quasi-Optics fournit des mesures de four en champ proche, qui sont utiles pour les champs de métrologie tels que les nanostructures 3D. Physiquement, FE VII se compose d'une étape de traduction XYZ, d'un bras d'échantillon, d'une baie de composants et d'une fenêtre interférométrique. L'étape de translation XYZ permet un positionnement et un alignement précis de l'échantillon, tandis que le bras de l'échantillon est utilisé pour monter et orienter l'échantillon. La baie de composants abrite tous les équipements fermés nécessaires à une installation complète de mesure, tels que les modules REFLEX OMS et Quasi-Optics. Enfin, la fenêtre interférométrique permet un accès direct à l'échantillon pour un alignement précis. Dans l'ensemble, FEVII est une machine ellipsomètre exceptionnelle, offrant une précision et une répétabilité supérieures dans un emballage relativement simple et économique. Il peut être utilisé pour une variété d'applications de caractérisation optique et matérielle, offrant aux utilisateurs la flexibilité de s'attaquer à tous les projets auxquels ils peuvent faire face.