Occasion RUDOLPH FE VII #9097170 à vendre en France

RUDOLPH FE VII est un ellipsomètre avancé qui utilise des techniques spectroscopiques pour mesurer la façon dont la lumière réfléchit une surface et calculer des paramètres précis liés aux propriétés optiques. L'instrument combine un spectromètre UV-visible, un polarimètre et un étage d'échantillonnage à angle variable pour mesurer l'indice de réfraction, l'épaisseur du film, la contrainte du film et d'autres propriétés optiques de diverses surfaces de matériaux. A l'aide d'une double plaque de compensation tournante, la lumière est polarisée et dirigée à différents angles de la surface de l'échantillon, ce qui reflète la lumière avec des propriétés changées en fonction de ses propriétés optiques. Le spectromètre recueille alors, filtre et mesure l'intensité de la lumière réfléchie à de multiples angles et longueurs d'onde. Ces données sont utilisées pour calculer les propriétés optiques de l'échantillon. La haute précision et la répétabilité sont des caractéristiques essentielles de RUDOLPH FEVII. L'instrument utilise un étage d'échantillonnage motorisé avancé qui maintient le faisceau incident perpendiculaire à la surface de l'échantillon en tout temps. Le système sous pression assure également qu'il n'y a pas de mouvement de l'échantillon pendant le fonctionnement, ce qui donne des mesures précises avec une répétabilité de 0,2 nm et une meilleure précision globale. FE-VII est également équipé d'un puissant ensemble d'analyse de données pour une manipulation simplifiée des données. Le logiciel permet une analyse rapide et facile des résultats de mesure, les données étant toujours enregistrées en format texte brut pour une analyse future dans des applications externes. Des forfaits spécialisés sont également disponibles pour l'analyse de mesure de phase, en tenant compte de la géométrie des échantillons de film ainsi que de la contrainte et de l'indice de réfraction. RUDOLPH FE-VII est adapté à une variété d'applications optiques et en couches minces, y compris la métrologie, la conception optique, la recherche et le développement, la fabrication industrielle, le contrôle de la qualité et la surveillance de l'environnement. Il est également équipé pour mesurer une gamme complète de couches minces allant des couches atomiques aux millimètres. Sa conception avancée et ses caractéristiques garantissent des mesures robustes et précises des composants et des produits.