Occasion RUDOLPH FE VII #9148236 à vendre en France

RUDOLPH FE VII est un ellipsomètre spectroscopique perfectionné conçu pour la recherche et le développement de couches minces optiques. Il est équipé de capacités optiques et d'acquisition de données avancées pour mesurer les caractéristiques optiques des structures à couches minces avec un degré élevé de précision et de précision. Le dispositif utilise un monochromateur sélectionnable en longueur d'onde avec une couverture spectrale UV-visible-NIR de 190 à 1 600 nanomètres. L'équipement est conçu pour simuler les propriétés optiques de l'échantillon sous différents angles incidents afin de caractériser avec précision les propriétés optiques des échantillons. Au cœur de RUDOLPH FEVII se trouve l'étape d'échantillonnage automatisé modulaire qui permet des mesures automatisées d'un maximum de trois échantillons à la fois. L'étage d'échantillonnage robuste comporte un mouvement linéaire et un balayage à grande vitesse allant jusqu'à 200 nanomètres de translation verticale et 300 nanomètres de rotation de rayon. Le mouvement linéaire est utilisé pour positionner les échantillons dans une plage optimale d'angles incidents avec une résolution allant jusqu'à 0,001 degré. L'étage d'échantillonnage permet également une double polarisation optique pour un balayage d'étage d'échantillon à angle variable. L'ellipsomètre utilise un réseau de composants de balayage de faisceau pour faciliter la double polarisation automatisée et la mesure d'angle variable des propriétés optiques de l'échantillon. Le système comprend un ensemble de sources lumineuses telles que le tungstène, le xénon ou la lumière à large bande qui peut être utilisé pour simuler avec précision un faisceau incident à différents angles. L'unité est équipée d'un réseau de photodétecteurs pour mesurer les angles réfléchis et évaluer l'intensité, les indices de réfraction et l'épaisseur de l'échantillon. Les composants optiques et optoélectroniques avancés couplés au logiciel FE-VII permettent de réaliser des balayages d'angle et d'intensité précis des échantillons et de simuler les propriétés optiques de l'échantillon. En plus de ses fonctionnalités automatisées, RUDOLPH FE-VII comprend une vaste gamme d'outils d'étalonnage et d'analyse de données pour analyser les données. Il s'agit notamment d'une bibliothèque de propriétés optiques des échantillons et des substrats, d'une machine de contrôle de la température, d'outils personnalisés d'analyse de données et de rapports et d'une base de données de paramètres de mesure. L'interface conviviale et les capacités techniques étendues font de FE VII une solution idéale pour la recherche et le développement de couches minces optiques.