Occasion RUDOLPH FE VII #9161281 à vendre en France

RUDOLPH FE VII est un ellipsomètre sophistiqué et précis de RUDOLPH Technologies, Inc. utilisé pour mesurer les propriétés électroniques et optiques des couches minces et des surfaces. Ses sept (7) configurations différentes peuvent mesurer un large éventail de paramètres, tels que l'épaisseur, l'indice de réfraction, le coefficient d'extinction, la rugosité de surface, la résistivité, l'écart de bande et les constantes optiques des couches minces. L'instrument comprend un bras d'échantillonnage réglable, un détecteur très sensible et une diode laser à solide de longueur d'onde comprise entre 200 et 800 nm. RUDOLPH FEVII utilise un système optique avec un goniomètre pour mesurer les propriétés optiques d'un échantillon. Le goniomètre fait tourner le faisceau lumineux de l'échantillon vers deux détecteurs situés à 90 degrés l'un de l'autre, ce qui permet une détermination précise et précise des paramètres optiques de l'échantillon. Un accessoire de polarisation supplémentaire peut être ajouté au système de mesure de paramètres optiques basés sur la polarisation. L'instrument est pré-programmé avec différentes méthodes de mesure, ce qui le rend idéal pour une gamme de tâches de caractérisation des matériaux. Il offre une interface intuitive et conviviale avec une fenêtre de contrôle de données séparée, permettant une utilisation facile et un fonctionnement facile. L'instrument dispose également d'un logiciel de traitement et d'analyse des données puissant mais flexible qui permet aux utilisateurs de traiter rapidement les données, d'identifier les problèmes et les tendances et de produire des rapports. FE-VII est capable de mesurer des films d'épaisseur de 0,2 nm à 1 000 nm et des valeurs d'indice de réfraction jusqu'à 4,0. L'instrument peut également être configuré avec un accessoire à ondes stationnaires pour mesurer une plage d'épaisseurs de film allant jusqu'à 6000nm, ainsi qu'une large gamme d'autres paramètres optiques, tels que la résistivité, les énergies d'écart de bande, les constantes diélectriques, les constantes optiques, la rugosité de surface, l'indice de réfraction et le coefficient d'extinction. Dans l'ensemble, FEVII est un ellipsomètre avancé, robuste et polyvalent qui est parfait pour une gamme de processus de caractérisation des matériaux. Ses fonctions pré-programmées le rendent facile à utiliser pour les applications techniques les plus exigeantes, tandis que son logiciel puissant permet aux utilisateurs de traiter et d'analyser rapidement les données. Cela en fait un choix idéal pour les chercheurs et les scientifiques des matériaux.