Occasion RUDOLPH NIR 3 #9199611 à vendre en France

Fabricant
RUDOLPH
Modèle
NIR 3
ID: 9199611
Style Vintage: 1995
Ellipsometer 1995 vintage.
RUDOLPH NIR 3 est un ellipsomètre conçu pour mesurer l'épaisseur et les constantes optiques des films multicouches. Il présente des caractéristiques améliorées par rapport à la version précédente (RUDOLPH NIR 2) qui comprend un nouveau détecteur proche infrarouge (NIR), une meilleure portée de mesure et une précision accrue. RUDOLPH NIR-3 utilise un faisceau laser pulsé, constitué d'ondes lumineuses de longueur d'onde prédéterminée, qui est dirigé sur l'échantillon. La lumière interagit alors avec la surface de l'échantillon et une partie de celle-ci est réfléchie vers le détecteur pour analyse. L'instrument mesure le changement de polarisation de la lumière incidente et l'angle du faisceau lumineux réfléchi, qui se produit en raison des différentes épaisseurs et constantes optiques des films multicouches. Les paramètres optiques - les propriétés optiques qui caractérisent le matériau - peuvent être déterminés à partir de la polarisation et de l'angle mesurés. Ceci permet de déterminer l'épaisseur et les constantes optiques des films à un niveau de précision sans précédent. L'instrument a une large plage de mesure et il peut mesurer à la fois l'épaisseur et les constantes optiques de jusqu'à 14 couches d'échantillons diélectriques ou métalliques avec une très grande précision et une très faible incertitude. Il peut mesurer jusqu'à 2000 Ångström d'épaisseur et il peut être utilisé pour analyser des films allant de 1nm à 300µm d'épaisseur. Le logiciel d'interface utilisateur de NIR 3 a été conçu pour une utilisation facile et il comprend des fonctionnalités avancées telles que des mesures de lots automatisées, des modèles de rapports personnalisables et des affichages de données graphiques. En bref, NIR-3 est un ellipsomètre avancé qui fournit des mesures précises de l'épaisseur et des constantes optiques des échantillons avec une très grande précision. Il a une large gamme de mesure et il est facile à utiliser. Cela en fait un excellent choix pour caractériser les films dans une grande variété d'applications industrielles et de recherche.
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