Occasion RUDOLPH S 300 #9257404 à vendre en France

RUDOLPH S 300
Fabricant
RUDOLPH
Modèle
S 300
ID: 9257404
Defect inspection systems.
RUDOLPH S 300 est un ellipsomètre avancé pour la métrologie des couches minces. L'ellipsométrie est une technologie non destructive utilisée pour mesurer l'épaisseur et les propriétés optiques des couches minces. Il s'agit de mesurer la lumière réfléchie d'un échantillon, et de là, il peut mesurer l'information sur les couches de film, comme l'épaisseur, l'indice de réfraction et le coefficient d'extinction. RUDOLPH S300 est un ellipsomètre conçu pour mesurer des couches minces, allant de 1 à plusieurs centaines de nanomètres, avec une grande précision et précision. Il est équipé de trois types de sources lumineuses incidentes pour une large couverture en longueur d'onde : une lampe à arc xénon, une lampe tungstène-halogène et un laser supercontinu. Il dispose également d'une caméra CCD couplée à un monochromateur précis pour des mesures rapides et précises sur une large gamme spectrale. S-300 utilise un étage d'échantillonnage breveté, qui utilise une combinaison de composants mécaniques, d'air et de vide pour des mouvements très précis de l'échantillon. Il dispose également d'un moteur d'inclinaison pneumatique et de deux mécaniques de précision pour permettre des mesures précises de l'angle d'incidence. L'ellipsomètre est équipé d'un logiciel libre, permettant aux utilisateurs de personnaliser le logiciel en fonction de leurs besoins spécifiques. Il est également livré avec RUDOLPH Research Analyzer, qui permet aux utilisateurs d'interagir avec le matériel et le logiciel, ainsi que d'effectuer une analyse de données puissante. Compte tenu de sa large couverture en longueur d'onde, de sa mécanique de précision et de son logiciel libre, le RUDOLPH S-300 est un choix idéal pour les organismes de recherche et de développement qui exigent des mesures fiables des couches minces. Ses mesures précises et de haute précision et sa capacité à personnaliser le logiciel en font un choix idéal pour une variété d'applications de métrologie en couches minces.
Il n'y a pas encore de critiques