Occasion RUDOLPH S3000A #9311178 à vendre en France
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ID: 9311178
Style Vintage: 2005
Thickness measurement system
Process: Metro
2005 vintage
RUDOLPH S3000A Ellipsomètre est un instrument opto-électronique non invasif utilisé pour mesurer l'épaisseur, l'indice de réfraction, les constantes optiques et d'autres propriétés matérielles des couches minces. Sa fonction principale est de fournir une description très précise de la couche superficielle d'un échantillon. L'Ellipsomètre fonctionne en mesurant les changements d'intensité lumineuse qui se produisent le long d'un faisceau polarisé lorsqu'il réfléchit la couche superficielle de l'échantillon. L'intensité réfléchie est mesurée sous différents angles et les données lumineuses réfléchies sont ensuite traitées avec une suite logicielle dédiée pour déterminer l'épaisseur de la couche superficielle, l'indice de réfraction, les constantes optiques et d'autres propriétés matérielles. RUDOLPH S 3000 A utilise une longueur d'onde de 532nm et est intégré à un étage de mesure XYZ à 360 ° ininterrompu. Cela permet de cartographier la capacité avec jusqu'à 24 relais pour déterminer l'épaisseur, l'uniformité et l'indice de réfraction de nombreux types d'échantillons différents. La caméra d'imagerie haute résolution facilite l'alignement et l'imagerie par couche d'oxyde de surface. L'interface utilisateur simple permet un contrôle systématique des processus et une surveillance de la qualité. S3000A présente une précision d'indice de réfraction et d'épaisseur de couche de 3nm et 3mrad, respectivement. Cette précision extrême fait de S 3000 A un instrument souhaitable pour de nombreuses applications incluant la vérification du dépôt en couches minces, la caractérisation des filtres optiques, le développement de films semi-conducteurs et de nombreux autres domaines de recherche variés. Au-delà des capacités noires standard, RUDOLPH S3000A propose des options supplémentaires pour optimiser et affiner l'alignement et le fonctionnement de l'instrument. Il comprend également une série de solutions logicielles et d'applications adaptées à toutes les opérations et exigences. En résumé, RUDOLPH S 3000 Un ellipsomètre représente un instrument très précis et polyvalent pour mesurer la deuxième couche d'un échantillon. Son interface utilisateur intégrée et sa suite logicielle sur mesure en font un excellent choix pour tout environnement de recherche où la précision et la répétabilité dans la mesure des matériaux en couches minces sont primordiales.
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