Occasion RUDOLPH S3000A #9389601 à vendre en France

RUDOLPH S3000A Ellipsomètre est un instrument optique automatisé, commandé par ordinateur, utilisé pour mesurer l'épaisseur, les constantes optiques et la contrainte des couches minces. Il peut également être utilisé pour calculer les indices de réfraction des films. RUDOLPH S 3000 Un ellipsomètre peut mesurer des échantillons d'une multitude de substrats tels que des films organiques et inorganiques sur des surfaces de verre, de métal, de céramique ou autres. S3000A utilise l'ellipsométrie spectroscopique, une technique qui mesure les changements de polarisation de la lumière réfléchie sur une surface d'échantillon. L'ellipsomètre spectroscopique utilise une source lumineuse à large bande et un monochromateur réseau pour mesurer une large gamme de longueurs d'onde, du visible à l'infrarouge. S 3000 A utilise également un compensateur rotatif visible pour mesurer les signaux lumineux incidents et réfléchis. Le rotateur visible applique une lumière elliptiquement polarisée incidente sur une surface d'échantillon et mesure le changement de polarisation de la lumière réfléchie. Le compensateur est commandé par un codeur d'angle qui surveille l'angle de rotation et compense les erreurs (causées par des changements environnementaux ou des fluctuations de température). RUDOLPH S3000A peut mesurer un certain nombre de paramètres, dont l'épaisseur des couches, les constantes optiques, la contrainte, l'anisotropie optique (angles d'inclinaison et d'azimut) et les indices de réfraction. Le système est équipé pour effectuer des études cartographiques, permettant de mesurer et d'analyser plusieurs points simultanément. RUDOLPH S 3000 A peut également mesurer une gamme de tailles d'échantillons, à partir d'échantillons micro- et nano-échelles qui sont aussi petits que 50 nanomètres. S3000A utilise également une interface utilisateur intuitive compatible avec un large éventail de systèmes d'exploitation Windows. Cette interface utilisateur comprend un système d'aide en ligne qui aide les utilisateurs dans la configuration de mesure, l'acquisition de données et l'analyse de données. De plus, le système dispose d'une bibliothèque de plus de 100 modèles de couches minces, ce qui facilite l'analyse des données des échantillons. Dans l'ensemble, le S 3000 A Ellipsomètre est un instrument automatisé contrôlé par ordinateur qui fournit aux utilisateurs des mesures précises de l'épaisseur du film, des constantes optiques, des contraintes et des indices de réfraction. Son interface utilisateur intuitive et sa capacité à mesurer simultanément plusieurs points d'échantillonnage en font un choix idéal pour ceux qui s'intéressent à l'étude des films minces.