Occasion RUDOLPH S3000S #9389600 à vendre en France

L'ellipsomètre industriel RUDOLPH S3000S est un instrument de mesure précis pour la caractérisation des propriétés des films des matériaux semi-conducteurs. Construit selon des applications exigeantes dans l'industrie des semi-conducteurs, RUDOLPH S 3000 S dispose d'options logicielles et matérielles hautement intégrées pour répondre aux besoins spécifiques des clients. Avec sa suite logicielle unique, Agilis Pro 3 et Agilis Core 7, S3000S propose une gamme de modules de collecte et d'analyse de données pouvant être utilisés pour un large éventail d'applications de recherche et développement. S 3000 S fournit des mesures précises, précises et répétables sur un large éventail de matériaux. Sa technologie brevetée à double faisceau permet à l'ellipsomètre de mesurer plusieurs couches dans un même échantillon ou une seule surface d'échantillon, et elle offre un rapport signal/bruit élevé pour une meilleure analyse. L'ellipsomètre est facile à utiliser grâce à son interface graphique intuitive. Il permet aux utilisateurs de configurer rapidement les paramètres des échantillons, les paramètres d'étalonnage et les plages de mesure. Il propose également une variété d'applications logicielles, telles que l'affichage en temps réel de la structure de la pile de films, le tracé des courbes ellipsométriques, l'analyse couche par couche et la comparaison des courbes. RUDOLPH S3000S ellipsomètre offre une option de fonctionnement à température ambiante, ainsi que la capacité de mesurer dans une large gamme de températures, de -10 ° C à + 90 ° C, permettant une caractérisation plus rapide du film. Un choix de paramètres de caractérisation de film est disponible sur RUDOLPH S 3000 S, y compris des paramètres polarimétriques, tels que gamma et delta, des constantes optiques (indice de réfraction et coefficient d'extinction), ainsi que des épaisseurs de couches et des concentrations de composants multiples. S3000S ellipsomètre est incroyablement efficace, avec un temps de cycle allant jusqu'à 7 secondes. Les vitesses élevées de S 3000 S permettent des tests plus rapides et une modélisation personnalisée de la pile de films. Pour la propreté et la précision, RUDOLPH S3000S est équipé d'un système optique de qualité semi-conducteur, conçu pour des films multicouches et des analyses multi-points. Dans l'ensemble, l'ellipsomètre industriel RUDOLPH S 3000 S est un outil idéal pour les laboratoires de recherche et développement dans l'industrie des semi-conducteurs, offrant un mélange parfait de précision, de vitesse et de valeur. Il offre un large éventail d'applications, et le logiciel hautement intégré est sûr de donner à tout utilisateur une mesure fiable et répétable.