Occasion RUDOLPH S3000S #9393060 à vendre en France

L'ellipsomètre RUDOLPH S3000S est un outil puissant et précis pour mesurer les propriétés optiques des matériaux minces. Le système permet de déterminer l'épaisseur, l'indice de réfraction et le coefficient d'extinction des matériaux dont l'épaisseur varie de 1 nm à 10000 nm. RUDOLPH S 3000 S utilise le principe de la mesure ellipsométrique qui permet de caractériser les constantes optiques du matériau en mesurant les paramètres ellipsométriques et en analysant l'épaisseur du film superficiel et ses compositions chimiques. L'instrument possède une grande précision de moins de 0,2 ° de précision polarimétrique, ainsi qu'une gamme spectrale allant de 200 nm à 1000 nm. Cette plage est divisée en 16 lasers fixes de 250 nm à 800 nm avec des incréments de 0,5 nm, ainsi que l'option supplémentaire de couverture spectrale complète de 200 nm à 1000 nm. La configuration de S3000S est simple et facile, avec des polariseurs interchangeables dans la chambre d'échantillonnage, des lentilles en option pour augmenter la taille des taches et une source de lumière LED. L'instrument dispose également d'un étage d'échantillonnage à huit positions avec refroidissement et chauffage Peltier qui peut atteindre des températures allant jusqu'à 200 ° C, avec une lentille échangeable en option pour mesurer les couches épaisses. Pour l'analyse des données, RUDOLPH Software ou d'autres logiciels personnalisés peuvent être utilisés. Certaines des propriétés du S 3000 S le rendent particulièrement adapté dans certaines applications. Son ultra haute résolution peut être utilisée pour étudier les matériaux photovoltaïques, sa large gamme spectrale peut être utilisée pour les matériaux diélectriques et semi-conducteurs et sa grande précision pour les films minces optiques. En conclusion, RUDOLPH S3000S est un outil polyvalent pour mesurer les propriétés optiques des matériaux avec une précision remarquable. Sa précision, sa portée, son stade d'échantillonnage et sa capacité à analyser les données à l'aide de logiciels personnalisés en font un instrument extrêmement précieux pour la recherche et le développement de pointe dans le domaine de la photovoltaïque et des couches minces optiques.