Occasion RUDOLPH S3000S #9401466 à vendre en France

RUDOLPH S3000S Ellipsomètre est un ellipsomètre optique haute précision et haute résolution utilisé pour les mesures critiques de caractérisation en couches minces. Cet outil d'analyse avancé mesure l'évolution des propriétés optiques d'un film mince lorsqu'un faisceau lumineux le traverse du côté de l'échantillon. L'ellipsomètre mesure les angles de changement de polarisation, qui sont ensuite utilisés pour générer des informations sur l'épaisseur du film, l'indice de réfraction et l'anisotropie optique. RUDOLPH S 3000 S Ellipsomètre est conçu avec un étage d'échantillon rotatif et une sélection de longueur d'onde à quatre canaux, qui se combine pour fournir un outil puissant pour mesurer des échantillons très exigeants. L'étape d'échantillonnage rotatif permet d'effectuer des mesures angulairement diverses. Les longueurs d'onde peuvent être choisies d'UV, VIS, NIR (Près d'infrarouge) et MIR (Le milieu infrarouge) les gammes qui peuvent alors être lues simultanément dans l'analyseur différentiel S3000S. Le port à double vue permet également des mesures simultanées de transmission et de réflexion, ou des mesures basées sur la transmission et la polarisation. La S 3000 S est hautement compatible avec de nombreux systèmes de commande et d'isolation différents, permettant son utilisation dans une variété d'environnements. Son optique motorisée permet un alignement facile dans les plans horizontal et vertical afin d'optimiser l'examen des échantillons. L'instrument est également utilisable et convivial, permettant une maintenance et un fonctionnement simples. RUDOLPH S3000S Ellipsomètre permet de s'attaquer aux films les plus fins et aux substrats les plus difficiles, offrant des capacités de caractérisation plus grandes que les autres ellipsomètres. Son acquisition rapide de données permet aux chercheurs d'analyser des échantillons complexes à des vitesses allant de 5 minutes à plusieurs heures, selon le nombre de paramètres évalués. RUDOLPH S 3000 S Ellipsomètre est un outil indispensable pour la recherche, les applications industrielles et académiques, fournissant des résultats très précis et fiables pour les substrats optiques complexes et les échantillons.