Occasion RUDOLPH WaferView 220 #9130026 à vendre en France

RUDOLPH WaferView 220 Ellipsomètre est un instrument très précis et précis utilisé pour déterminer l'épaisseur, la composition et les propriétés optiques des films minces et autres matériaux optiquement actifs. Il est conçu pour mesurer les variations des constantes optiques qui sont inférieures à 1 % avec une résolution élevée constante. WaferView 220 a une conception modulaire qui permet une intégration facile dans d'autres équipements de laboratoire, ainsi qu'un logiciel intégré pour rationaliser l'analyse et fournir des données détaillées et fiables. RUDOLPH WaferView 220 utilise un équipement breveté d'acquisition d'images WaferView (VIAS) pour capturer des images d'une surface d'échantillon au niveau submicroscopique. Ces images très détaillées sont ensuite analysées numériquement pour fournir des informations sur la taille, la forme, l'indice de réfraction, l'épaisseur de la couche, la composition et la structure de l'échantillon. Ce procédé permet des mesures extrêmement précises, jusqu'à une couche de proton en épaisseur. WaferView 220 est équipé d'un étage commandé par ordinateur, qui permet à l'utilisateur de tourner et de positionner l'échantillon pendant l'analyse à tout angle souhaité. Il dispose également d'un système d'imagerie spectrale verticale avancé (VSI), qui capture des mesures précises de l'échantillon sur une gamme de longueurs d'onde, de l'ultraviolet au proche infrarouge. Cette unité est conçue pour fournir des données précises et cohérentes, même lors de la mesure de films très minces. RUDOLPH WaferView 220 peut être utilisé pour diverses expériences et applications, y compris la mesure de la qualité et de l'épaisseur des films ; détermination des constantes diélectriques et optiques ; caractérisant les surfaces semi-conductrices ; et la mesure du comportement optique des revêtements, des films et des couches. Il convient également pour une utilisation dans les semi-conducteurs, l'optique, la recherche sur les couches minces, ou toute autre application où la capacité de mesurer les variations minuscules des propriétés optiques est importante. WaferView 220 est une machine intuitive et puissante offrant une gamme de fonctions et de capacités, permettant aux chercheurs et aux scientifiques de mesurer rapidement et avec précision les propriétés optiques des films minces et d'autres matériaux optiquement actifs. Il fournit une analyse précise et fiable des données et est un élément essentiel de tout laboratoire, centre de recherche ou installation de production.