Occasion SEMILAB IR 3100s #9298698 à vendre en France

SEMILAB IR 3100 est un ellipsomètre de pointe de SEMILAB qui permet des mesures rapides et précises des échantillons de couches minces. L'ellipsométrie est un type de technique de diffusion de la lumière qui est utilisée pour déterminer l'épaisseur et l'indice de réfraction de films uniformes transparents allant de nanomètres (nm) à des centaines de nanomètres. IR 3100s Ellipsomètre utilise une technique brevetée interférence-réflexion pour étudier les propriétés des couches minces. L'instrument est basé sur le principe de l'interférence optique, et fonctionne en utilisant des faisceaux doubles de lumière d'une source laser verte à des angles d'enregistrement proches de l'angle de Brewster de chacun des matériaux étudiés. Le diagramme d'interférence généré par les deux faisceaux est détecté par un détecteur sensible à la polarisation qui est ensuite analysé pour obtenir des informations sur l'épaisseur et les propriétés optiques du film. Le système est équipé de trois modes d'éclairage et de détection permettant aux utilisateurs d'analyser un large éventail d'échantillons, des films sans contraste visible aux monocouches de matériaux complexes tels que les matériaux semi-conducteurs en couches. Le logiciel convivial permet une analyse automatisée, facilitant la mesure d'échantillons simples ou multiples. De plus, l'affichage en direct des courbes ellipsométriques pour chaque échantillon assure une analyse en temps réel pour chaque mesure. SEMILAB IR 3100s Ellipsomètre a une répétabilité de 0,8 % et une précision de 0,7 %. C'est un outil précieux pour les applications d'évaluation de la qualité et d'analyse des défaillances, permettant une mesure non destructive des propriétés optiques des films transparents. Il est souvent utilisé dans diverses industries, y compris les semi-conducteurs, l'optique, le revêtement optique, les panneaux solaires et plats. Ellipsomètre IR 3100s est équipé d'une variété de fonctionnalités dont la soustraction automatique de fond, la fonctionnalité améliorée USP, une fonction de calibration intégrée, et une caméra CCD d'imagerie haute vitesse. Le logiciel offre une gamme de fonctionnalités pour analyser diverses propriétés des échantillons et permet à l'utilisateur de comparer des échantillons réels avec des résultats simulés. Grâce à la flexibilité de l'instrument et à sa conception modulaire, il est facilement personnalisable pour répondre à tous les besoins de recherche ou d'application industrielle.