Occasion SEMILAB PS 2000 #9244402 à vendre en France

SEMILAB PS 2000 Ellipsomètre est un puissant équipement d'ellipsométrie multifonctions conçu pour des revêtements minces et transparents de précision. Ce système permet de mesurer simultanément les polarités des trois composantes lumineuses polarisées du faisceau incident, permettant une caractérisation précise des angles d'échantillonnage et des caractérisations de l'échantillon qui dépendent des propriétés optiques de ses matériaux constitutifs. L'unité peut être utilisée pour une grande variété d'applications, y compris l'ellipsométrie des couches minces, la mesure des constantes optiques, la caractérisation des couches minces de carbone diamant et nano-cristallin, la mesure de la morphologie de surface et l'étude des propriétés des échantillons (tels que les indices de réfraction et les coefficients d'extinction). Le matériel de PS 2000 se compose d'un ellipsomètre compact et facile à utiliser qui est spécialement conçu pour la recherche et la caractérisation simultanées de la lumière visible et infrarouge. La machine se compose d'un polariseur rotatif, d'un échantillon et d'un détecteur, d'un monochromateur, d'un séparateur de faisceau polarisant et de deux longueurs de bras de mesure. Le polariseur est entraíné par un moteur pas à pas commandé par l'intermédiaire d'un microcontrôleur. L'échantillon et le détecteur sont reliés à des détecteurs par l'intermédiaire d'une fibre optique refroidie, permettant à l'utilisateur d'acquérir simultanément des données spectrales à partir des régions visible et infrarouge. Pour obtenir une grande précision de mesure, on utilise un répartiteur stationnaire de polarisation efficace composé de deux lasers de grande puissance. Le monochromateur, qui est constitué d'une lentille collimatrice, d'un disperseur et d'un étage de balayage, est entraíné par un moteur pas à pas et commandé par l'intermédiaire d'un microcontrôleur. Le logiciel associé à SEMILAB PS 2000 comprend une interface utilisateur complète, le contrôleur PCL, une interface utilisateur graphique intuitive et puissante. Il comprend également un programme de mesure de haute précision, qui soutient la mesure de la réflectivité ou de l'angle - d'incidence - nouveau dans le domaine de l'ellipsométrie. Le contrôleur PCL contrôle automatiquement l'échantillon et les mesures avec des paramètres ASR et AMR prédéfinis, permettant à l'utilisateur de facilement créer et enregistrer des scénarios pour des expériences répétables. En plus des caractéristiques standard, PS 2000 comprend également un composant d'étalonnage optionnel de l'outil qui fournit une méthode intuitive d'étalonnage de l'actif optique pour l'utilisation dans le modèle mesuré. Cette méthode permet à l'utilisateur de mettre rapidement en place l'équipement pour des caractérisations précises et répétables. D'autres composants du système comprennent une source de faible intensité pour mesurer les constantes optiques, un détecteur refroidi à l'azote liquide pour l'acquisition rapide de données et un étalonnage manuel du polariseur. SEMILAB PS 2000 Ellipsomètre est un outil puissant et fiable pour caractériser la plupart des couches minces et transparentes de pointe que l'on trouve dans les laboratoires de recherche et développement d'aujourd'hui. Sa conception innovante permet à l'utilisateur de caractériser rapidement et avec précision les propriétés des matériaux et les constantes optiques avec une précision inégalée. Avec la capacité de mesurer simultanément la polarisation de la lumière visible et infrarouge, cette unité est en mesure de fournir une caractérisation détaillée et complète des matériaux.