Occasion SENTECH SE 400 #9208990 à vendre en France

SENTECH SE 400 Ellipsomètre est un outil de caractérisation optique de couches minces utilisé pour mesurer les propriétés optiques des couches minces et des surfaces. L'instrument est conçu pour mesurer l'angle de déplacement de polarisation et l'ellipticité de la lumière monochromatique polarisée, réfléchissant une surface d'échantillon. Ce décalage et cette ellipticité varient en fonction des propriétés optiques de l'échantillon, telles que l'épaisseur, l'indice de réfraction et les propriétés diélectriques relatives des couches minces. SENTECH SE400 Ellipsomètre est un appareil de table avec une empreinte compacte. Il combine l'optique, la mécanique, l'électronique et les logiciels pour produire des analyses polyvalentes et précises de films minces, tels que des revêtements diélectriques antireflets et transparents. L'instrument dispose d'un compensateur tournant à grande vitesse et d'une tête d'ellipsomètre à deux angles pour offrir la souplesse nécessaire à la caractérisation des échantillons même les plus complexes. SE 400 Ellipsomètre fournit des données optiques très précises, grâce à un système de positionnement optique et d'échantillonnage sophistiqué qui produit des mesures automatisées, précises, répétables et fiables. L'instrument peut mesurer à la fois les caractéristiques absolues et relatives de l'échantillon, et peut être utilisé pour un large éventail d'applications, telles que la détermination de l'épaisseur du film, les indices de réfraction, les coefficients d'extinction, les constantes optiques et l'anisotropie. L'instrument est facile à mettre en place, à utiliser et à entretenir. Il dispose d'une interface utilisateur graphique simple sur un LCD couleur qui montre les paramètres et la sortie sélectionnables par l'opérateur, tels que l'épaisseur du film, l'indice de réfraction et les constantes optiques. Les sorties peuvent être facilement affichées et imprimées. SE400 Ellipsomètre est un instrument fiable, durable et précis avec une gamme complète de paramètres optiques qui peuvent être mesurés avec précision et rapidité. Ceci en fait un choix idéal pour les applications de caractérisation de couches minces.