Occasion SENTECH SE 400ADV #9202977 à vendre en France

SENTECH SE 400ADV est un ellipsomètre avancé conçu pour mesurer les propriétés des matériaux à couches minces. L'équipement est conçu pour une grande variété d'applications, y compris les revêtements optiques, les matériaux semi-conducteurs et les couches nanométriques. Il peut mesurer avec précision une large gamme d'épaisseurs optiques, d'indices de réfraction, de contraintes de film et de matériaux de couche. SENTECH SE400ADV offre une grande précision, répétabilité et vitesse de mesure, avec une plage étendue de moins de 0,1 nm à plusieurs microns d'épaisseur optique. Le système dispose d'un rotateur sans clics, permettant une mesure angulaire continue et des réglages d'angle jusqu'à 0,3 arcsec incréments. Le microscope polarisant est optimisé pour les images haute résolution, permettant une caractérisation rapide des films minces. L'unité SE 400ADV est livrée avec un logiciel Windows puissant. L'interface graphique permet une manipulation facile des paramètres et de l'analyse des données. L'interface conviviale permet une configuration rapide et efficace et une analyse avancée des données. Il permet également d'archiver et de restaurer des données, qui peuvent être utilisées pour la comparaison de paramètres de film à différentes périodes de temps. SE400ADV est livré avec une machine d'alignement automatique qui assure des mesures fiables et précises. L'outil automatisé élimine le besoin de réglage manuel et assure une performance cohérente entre plusieurs mesures. De plus, l'actif peut mesurer des échantillons à surfaces irrégulières, tels que des films structurés. SENTECH SE 400ADV dispose d'un détecteur quadrant intégré, permettant l'analyse simultanée de plusieurs échantillons. La collecte de données en temps réel permet un débit élevé, et l'affichage graphique des résultats permet une comparaison rapide et facile des distributions d'échantillons de paramètres. En outre, l'instrument peut être équipé de multiples plates-formes de faisceau, y compris des polariseurs circulaires gauche et droite, des fibres IR, et un laser disponible dans les domaines visible et proche infrarouge. SENTECH SE400ADV fournit une plate-forme avancée, de haute précision et haute performance pour la caractérisation des films minces. Avec son interface conviviale et son alignement automatisé, l'instrument est un outil fiable pour les applications de recherche et d'assurance qualité. Grâce à ce modèle, les chercheurs peuvent rapidement et précisément se faire une idée des propriétés des couches minces, en assurant la précision et la répétabilité des mesures.