Occasion SENTECH SE 400ADV #9258061 à vendre en France

SENTECH SE 400ADV est un ellipsomètre spectroscopique de haute précision conçu pour l'analyse de couches minces et de surfaces. C'est l'outil idéal pour la recherche et le développement dans les secteurs des semi-conducteurs, de l'optoélectronique, de l'automobile et des sciences de surface. SENTECH SE400ADV est conçu pour la précision, avec une excellente reproductibilité et une répétabilité ambiante de 0,15 degré en Ellipsométrie Ψ/ Δ. Une source d'éclairage laser ultra-stable haute performance et la construction de détecteurs assurent la cohérence et l'intégrité des mesures. SE 400ADV offre des fonctions d'auto-calibrage et de correction automatique des processus, ainsi que la flexibilité de 22 réglages de longueur d'onde de 190nm à 1150nm pour permettre des mesures de constantes optiques et de paramètres non Lambert. Son ellipsomètre à haute vitesse permet des mesures rapides dépendantes du temps et ses solutions innovantes brevetées, comme le positionneur automatique d'échantillons, en font un outil de recherche puissant. SE400ADV est livré standard avec un mandrin de 6 pouces, fournissant une précision d'étape de 0,2 µm au niveau de l'échantillon, et une fixation de microscopie laser à dioxyde de carbone, permettant à l'utilisateur d'étudier les microstructures avec topographie, réflectivité et rugosité mesures avec une vraie résolution nanométrique. Un modulateur de polarisation optionnel permet de déterminer la biréfringence et la rotation optique de films ou de matériaux, en élargissant l'éventail des applications et des possibilités. SENTECH SE 400ADV dispose d'un fonctionnement intuitif et convivial avec les logiciels Windows ou Linux, maximisant l'expérience utilisateur avec une variété de fonctionnalités pratiques et utiles. Ils comprennent une interface graphique point-and-click complète, une sélection de fonctions d'ajustement de courbe, et la capacité d'exporter des données de mesure dans les formats de fichiers les plus courants. SENTECH SE400ADV est la solution idéale pour les applications nécessitant les résultats les plus précis, comme la mesure des constantes optiques, les paramètres non Lambert, l'épaisseur des couches de dépôt, l'indice de réfraction des couches, les mesures de polarisation et les mesures en temps réel. Que ce soit pour la recherche et le développement ou la surveillance des processus industriels, SE 400ADV va au-delà des méthodes d'ellipsomètre standard, ouvrant la voie à l'analyse cinématographique.