Occasion SENTECH SE 400ADV #9286513 à vendre en France

SENTECH SE 400ADV Ellipsomètre est un appareil de mesure optique polyvalent et précis conçu pour analyser les surfaces de couches minces de la région visible dans le proche infrarouge (NIR). Le système est conçu pour détecter des revêtements extrêmement fins ainsi que des matériaux transparents avec application dans le développement de dispositifs semi-conducteurs et d'autres mesures optoélectroniques, optiques et de revêtements optiques. SENTECH SE400ADV mesure l'état de polarisation de la lumière réfléchie pour déterminer avec précision les propriétés optiques des films sur les surfaces. L'unité offre un alignement automatique et manuel avec une précision et une répétabilité élevées. Il dispose également d'une grande mémoire d'acquisition de données et d'un débit d'acquisition de données à grande vitesse, permettant des mesures étendues et une acquisition de données à haut débit. SE 400ADV Ellipsomètre est capable de fournir des informations quantitatives et qualitatives sur les couches de film sur le substrat. En outre, la machine offre un large éventail de capacités d'analyse, y compris la composition, les taux de dépôt, la topographie, la conformité et l'épaisseur. L'utilisation d'une bobine Helmholtz permet de réduire le bruit de fond et d'obtenir des résultats plus précis. SE400ADV dispose d'une interface logicielle entièrement automatisée, permettant une configuration et une collecte de données faciles et rapides. L'utilisateur peut définir les paramètres de mesure et les paramètres de collecte de données. L'interface graphique intuitive permet la conception rapide d'expériences et le traitement des données. De plus, le logiciel génère automatiquement des calculs sur les données collectées permettant une analyse rapide et facile. SENTECH SE 400ADV offre également un outil d'analyse avancé, permettant aux utilisateurs d'aller au-delà des résultats quantitatifs. L'actif permet une visualisation détaillée des couches de film mesurées, y compris des diagrammes de régénération orbitale et énergétique. De plus, le modèle d'analyse peut générer des propriétés de surface avancées incluant la composition, la rugosité de l'interface, les constantes optiques, et bien plus encore. SENTECH SE400ADV Ellipsomètre est un équipement de mesure optique facile à utiliser, polyvalent et précis conçu pour analyser les surfaces de couches minces. Il est idéal pour le développement de dispositifs semi-conducteurs et d'autres mesures optoélectroniques, optiques et de revêtements optiques en raison de son haut débit d'acquisition de données et de sa large gamme de capacités d'analyse. Avec son interface logicielle automatisée et son système d'analyse avancé, SE 400ADV permet aux utilisateurs de recueillir rapidement et avec précision toutes les propriétés matérielles nécessaires à une analyse réussie.