Occasion SENTECH SE 400ADV #9316098 à vendre en France

SENTECH SE 400ADV est un ellipsomètre qui permet la mesure non destructive, précise et précise des propriétés optiques en couches minces sur divers substrats. Cet ellipsomètre est un instrument polyvalent qui offre une collection de caractéristiques puissantes et peut mesurer à la fois la réflexion et l'épaisseur de la couche de transmission des films diélectriques sur des substrats métalliques en un temps extrêmement court. SENTECH SE400ADV est conçu avec une source lumineuse circulaire de polarisation et un objectif qui forme un système d'éclairage non imageur, coaxial et dirigé. Cela permet une analyse non destructive, permettant à l'échantillon mesuré de rester intact. La taille du spot SE 400ADV est réglable, avec une mesure du faisceau d'échantillons de 2 millimètres. L'objectif recueille la lumière réfléchie et réfractée et focalise le faisceau sur le spectrophotomètre de précision. SE400ADV analyse contient trois configurations de mesure différentes, chacune ayant ses propres capacités. La détermination des constantes optiques d'un échantillon, telles que l'indice de réfraction et d'absorption, peut être réalisée en recueillant des données paramétrées. L'ellipsomètre peut également être utilisé pour déterminer l'épaisseur des couches minces avec la configuration à double longueur d'onde. Ces trois configurations sont enregistrées en un seul balayage automatique et peuvent quantifier les résultats grâce au logiciel SENTECH. SENTECH SE 400ADV est également livré avec un indicateur de rugosité intégré. Ceci permet d'analyser la rugosité superficielle d'un substrat. L'instrument est également équipé d'une sélection automatique de longueur d'onde avancée. Cette caractéristique permet une analyse plus rapide en utilisant les bonnes longueurs d'onde pour un certain substrat. L'instrument lui-même présente une très faible dérive orbitale qui résulte de l'utilisation d'une source lumineuse à faible bruit et d'un refroidissement thermoélectrique actif. L'interface informatique intégrée est livrée avec un écran de 7 pouces qui est conçu pour être facile à naviguer. En outre, l'interface permet des mises à jour et des mises à jour logicielles rapides et faciles. L'instrument est également livré avec un certain nombre de programmes d'application prédéfinis qui permettent une collecte et une analyse de données rapides et précises. SENTECH SE400ADV est un outil précis et puissant pour la caractérisation des films minces. Ses nombreuses caractéristiques permettent de mesurer plus rapidement et facilement les propriétés optiques des couches minces. L'instrument comprend des programmes d'application prédéfinis et une interface informatique intégrée, ce qui en fait un excellent choix pour les professionnels qui doivent mesurer les propriétés optiques des couches minces en temps opportun et de manière précise.