Occasion SENTECH SE 800PV #293651593 à vendre en France

SENTECH SE 800PV est un ellipsomètre spécialement conçu pour mesurer les couches minces. Les ellipsomètres mesurent l'activité optique des surfaces - réflective ou Bted - afin d'obtenir des informations sur leur épaisseur, leur uniformité et leur indice de réfraction. SE 800PV est un dispositif de haute précision, offrant des profils précis d'épaisseur de matériau, d'indice de réfraction et d'uniformité optique. SENTECH SE 800PV utilise la matrice Mueller Ellipsométrie pour mesurer l'activité optique des surfaces. Ses mesures sont très précises et fournissent à l'utilisateur les données nécessaires pour analyser et évaluer les couches minces. Le dispositif est équipé d'un compensateur à deux axes permettant une imagerie haute résolution de l'échantillon. La méthode Ellipsométrie de matrice Mueller utilisée en SE 800PV utilise une source lumineuse polarisée de haute intensité, qui permet des mesures ultra-précises. SENTECH SE 800PV est conçu pour être utilisé dans des environnements où les conditions industrielles sont difficiles, comme les températures élevées, les vibrations et les chocs. Il est très compact, ce qui le rend bien adapté pour une utilisation dans les laboratoires, les salles de classe et les environnements de fabrication. Le dispositif est également compatible avec une gamme de tailles d'échantillons, de niveaux macro à micro. Cela le rend idéal pour un large éventail de tests et d'applications. Le logiciel qui accompagne SE 800PV est facile à utiliser et fournit à l'utilisateur des outils d'analyse pour obtenir des profils détaillés de chaque échantillon. En outre, le logiciel permet à l'utilisateur de stocker et de gérer toutes les données de test dans une seule base de données. Le logiciel prend également en charge l'impression et l'exportation de données, permettant aux utilisateurs de partager rapidement et facilement les résultats de leurs tests avec leurs collègues ou d'autres installations. Dans l'ensemble, SENTECH SE 800PV est un appareil fiable et très précis, idéal pour mesurer les couches minces. Son approche Ellipsométrie matricielle Mueller, sa conception robuste et son logiciel facile à utiliser le rendent utile dans divers contextes industriels, assurant une analyse précise et détaillée des échantillons.