Occasion SENTECH Senduro #293651563 à vendre en France

SENTECH Senduro est un ellipsomètre avancé utilisé pour mesurer l'épaisseur des couches minces, les constantes optiques et la rugosité de surface d'une variété d'échantillons. L'ellipsomètre peut mesurer des échantillons ayant une large gamme de propriétés optiques, telles que l'indice de réfraction (n), le coefficient d'extinction (k), l'épaisseur du film (t), la rugosité de surface (r) et d'autres caractéristiques optiques. Senduro utilise une source laser adaptée aux combinaisons de longueurs d'onde et d'angles spécifiques. L'angle est réglable de 6 à 78 degrés, ce qui permet d'évaluer une large gamme de configurations d'échantillons. De plus, l'étage rotatif intégré permet un alignement angulaire précis et une large plage angulaire pour la mesure des échantillons. SENTECH Senduro utilise un système de détection optique sophistiqué pour analyser l'orientation de la lumière réfléchie de l'échantillon. Le dispositif peut détecter des changements de polarisation de la lumière en fonction des changements de couches minces. Cela permet de mesurer une variété de paramètres tels que l'épaisseur des couches minces, les indices de réfraction, les coefficients d'extinction et la rugosité de surface. Senduro est conçu pour un faible entretien sans avoir besoin de filtres ou d'éléments de détection supplémentaires. Il est très précis, avec une résolution inférieure à 0,005 en épaisseur de couche mince et inférieure à + - 0,001 en indices de réfraction et coefficients d'extinction. L'appareil utilise un logiciel intuitif, permettant aux utilisateurs d'analyser rapidement et facilement leurs données. Il peut stocker jusqu'à 2000 mesures et a un taux élevé de transfert de données, permettant aux utilisateurs d'analyser et d'enregistrer rapidement de grands ensembles de données. SENTECH Senduro est un ellipsomètre puissant, précis et facile à utiliser, conçu pour aider les utilisateurs à mesurer rapidement les propriétés des couches minces et les caractéristiques optiques. L'alignement angulaire précis et une large gamme de combinaisons de longueurs d'onde et d'angles permettent une évaluation précise de l'échantillon et des résultats très précis.