Occasion SOPRA GES-5E #293823339 à vendre en France

SOPRA GES-5E est un ellipsomètre conçu pour l'analyse et la caractérisation de couches minces et de surfaces. L'instrument repose sur le concept d'interférence optique et d'ellipsométrie, qui permet d'étudier l'épaisseur du film, l'indice de réfraction, le coefficient d'extinction, le taux de dépôt, la rugosité superficielle et les propriétés ferroélectriques des matériaux. GES-5E est livré avec un étage d'échantillonnage automatisé vertical intégré, permettant la détermination rapide et précise des caractéristiques du film sur une large gamme d'échantillons. L'ellipsomètre est équipé d'un laser stabilisé de 632,8 nm de longueur d'onde et d'un détecteur de réseau photodiodiodiodiodique de pointe qui peut mesurer des angles avec une précision de 0,1 °. De plus, SOPRA GES-5E dispose d'une interface utilisateur personnalisée et d'un logiciel WinLab +, offrant à l'utilisateur la possibilité de contrôler les paramètres de l'instrument et de saisir les données en temps réel. GES-5E ellipsomètre offre d'excellentes performances du système et des mesures de haute précision. L'instrument est capable de mesurer différents types de surfaces, allant des substrats plats aux dispositifs microstructurés, avec une résolution inférieure à 0,1 nm. Les données peuvent également être exportées pour une analyse plus approfondie ou pour être intégrées dans d'autres systèmes logiciels de surveillance et de contrôle automatisés des processus. L'environnement logiciel convivial, l'interface graphique intuitive, les capacités de modélisation rapides et précises et les fonctions complètes d'exportation de données font de SOPRA GES-5E un outil puissant et polyvalent pour la caractérisation en profondeur des surfaces. L'instrument peut être utilisé dans un large éventail d'applications de recherche, telles que le dépôt de couches minces, le traitement des semi-conducteurs, les revêtements optiques et la lithographie. GES-5E permet aux chercheurs d'analyser rapidement et avec précision des films minces, des surfaces et d'autres matériaux. Son interface utilisateur intuitive, son étape d'échantillonnage automatisé et ses fonctions complètes d'exportation de données permettent aux chercheurs d'obtenir rapidement l'information dont ils ont besoin pour leurs recherches, ainsi que de surveiller et de contrôler les processus.