Occasion SOPRA GES-5E #9245090 à vendre en France

SOPRA GES-5E
Fabricant
SOPRA
Modèle
GES-5E
ID: 9245090
Taille de la plaquette: 8"
Ellipsometer, 8".
SOPRA GES-5E est un ellipsomètre, un type d'instrument optique qui est utilisé pour mesurer les propriétés optiques d'une surface ou d'un échantillon de couche mince. Il utilise un faisceau électromagnétique pour mesurer les changements de polarisation de la lumière après qu'elle soit réfléchie hors de la surface de l'échantillon. Ces changements peuvent être quantifiés en termes d'une propriété optique appelée polarisabilité. L'ellipsomètre est conçu pour mesurer avec précision cette propriété pour un échantillon particulier. GES-5E a un support d'échantillon annulaire texturé, qui sert à maintenir l'échantillon à plat et à niveau afin que des mesures précises puissent être prises. Le support texturé aide dans les réflexions pour s'assurer que des résultats exacts sont obtenus. Il dispose également d'un étage XY, qui peut être utilisé pour positionner précisément l'échantillon lui-même à la position optimale pour le test. Au centre de SOPRA GES-5E se trouve une source de diode laser à semi-conducteur qui émet un faisceau laser collimaté qui traverse l'échantillon et l'étage d'échantillonnage. Ceci est fait pour analyser les propriétés optiques de l'échantillon, telles que les modifications apportées à la polarisation par suite des réflexions sur la surface de l'échantillon. La sortie du faisceau laser est ensuite analysée par le spectrographe de l'échantillon, et les données spectrographiques résultantes sont utilisées pour calculer la polarisabilité de l'échantillon. GES-5E utilise alors ces données pour afficher graphiquement les résultats à l'utilisateur. Il dispose également d'un système de manipulation automatique des échantillons, qui peut être utilisé pour gagner du temps et de l'effort lors de mesures multiples. SOPRA GES-5E est un ellipsomètre très précis et fiable qui est conçu pour être utilisé dans des applications industrielles, comme dans les laboratoires et dans l'industrie des semi-conducteurs. Sa conception est telle qu'il peut être utilisé pour une large gamme de mesures différentes, y compris la détermination de l'épaisseur, l'indice de réfraction et le coefficient d'extinction. Cela en fait un choix idéal pour ceux qui cherchent à mesurer en détail les propriétés optiques de leurs échantillons.
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