Occasion SOPRA GES-5E #9401838 à vendre en France

SOPRA GES-5E est un ellipsomètre utilisé pour analyser des couches et des couches minces en mesurant et en analysant le changement de polarisation d'un faisceau lumineux. Ce modèle particulier est considéré comme polyvalent, intuitif et fiable et est utilisé pour mesurer les épaisseurs des échantillons entre 20 nanomètres et 2000 nanomètres et examiner tout film donné avec un degré élevé de précision. Le dispositif fonctionne selon les principes de l'Ellipsométrie où les changements de polarisation d'un faisceau lumineux provoqués par des couches variables de matériau et leurs propriétés optiques respectives sont interprétés pour fournir des données précises. On vise un angle d'incidence connu, puis on mesure la polarisation du faisceau à l'aide d'un double dispositif de détection. Les détecteurs enregistrent l'intensité du rayonnement diffusé qui est ensuite traité par un processeur ARM puissant, ainsi que des algorithmes et des logiciels sophistiqués, entraînant la formation d'un graphique. Ce graphique montre la valeur mesurée de la variation de polarisation pour le matériau donné et son épaisseur. GES-5E est une conception conviviale, tout-en-un contenant un ordinateur intégré d'analyse de données et interface utilisateur de panneau tactile, consistant en une interface graphique facile à utiliser et un ensemble de logiciels d'application. En plus de l'affichage, de l'analyse des données et du reporting, cette interface permet également de modifier les paramètres et paramètres. L'unité comprend un bras de support mécanique qui permet à l'utilisateur de positionner la tache de faisceau à n'importe quelle zone souhaitée sur l'étage d'échantillonnage et de maintenir le même angle d'incidence à un degré près. Ceci assure la grande précision de l'instrument dans la mesure des constantes optiques de la surface de l'échantillon. SOPRA GES-5E est équipé d'une lampe à halogène à quartz pour une longueur d'onde incidente de haute intensité et une gamme spectrale de détection double allant de 350nm à 1000nm. Il offre également une large gamme de fonctions de mesure, y compris l'affichage de données brutes, la cartographie dynamique et les mesures de paramètres à pleine portée. Son fonctionnement intuitif en fait un choix idéal pour les chercheurs, les ingénieurs et les utilisateurs dans divers domaines tels que la recherche sur les matériaux, les semi-conducteurs et l'optique.