Occasion SOPRA GESP-5 #293793402 à vendre en France

Fabricant
SOPRA
Modèle
GESP-5
ID: 293793402
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2001
Ellipsometer, 8" Option: UV-VIS-NIR Gonio bench Monochromator AC Transformer HP Optiplex 3020 PC Operating system: Windows 7 HP Deskjet 9070 Printer EUROSEP DC Power supply: 75 to 300 2001 vintage.
SOPRA GESP-5 est un ellipsomètre conçu pour la mesure de l'épaisseur du matériau de couche mince et pour la caractérisation optique des surfaces. C'est un instrument de haute précision fabriqué par SOPRA Mesure en France. Elle utilise la mesure de la variation de l'état de polarisation de la lumière réfléchie ou transmise depuis une surface pour déterminer les paramètres diélectriques du matériau, tels que l'épaisseur et l'indice de réfraction. Il est généralement utilisé pour surveiller les processus de croissance ou de gravure de couches minces sur un large éventail de taux de dépôt. GESP-5 dispose d'un détecteur CMOS à puce unique et d'un système optique de pointe, offrant une précision sous-angstrom et nanométrique. Il contient des amplificateurs à verrouillage numérique et une technologie avancée de balayage en spirale qui permet de mesurer des couches ultra minces avec une grande précision. Le système peut fournir des données de haute précision pour la mesure d'une seule couche ou des empilements de couches jusqu'à 20 couches. Le système est équipé d'un porte-échantillon réglable de 4 "et est conçu pour être compatible avec la plupart des porte-plaquettes standard. Il peut être configuré avec des systèmes de transport UHV pour l'analyse elctro-optique des surfaces sous diverses pressions et températures. SOPRA GESP-5 est intégré à une suite logicielle automatisée pour fournir des mesures ellipsométriques précises et répétables qui permettent à l'utilisateur de surveiller le rapport de polarisation horizontale et verticale, l'épaisseur absolue du film, les indices de réfraction et les fonctions diélectriques. Il comprend également plusieurs fonctions d'analyse de données telles que le déphasage, la moyenne azimutale et le mode de mesure mixte (réflectance-transmittance). L'instrument est conçu pour être flexible et facile à utiliser. Il peut être utilisé dans diverses applications telles que les cellules solaires, les revêtements optiques, les semi-conducteurs, les matériaux organiques et d'autres études sur couches minces. Sa construction durable assure un fonctionnement fiable avec de faibles besoins d'entretien.
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