Occasion SOPRA GXR #9172335 à vendre en France
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ID: 9172335
Spectroscopic ellipsometer
Grazing X-ray reflectometry
Multi-layer stack
Type of material:
Semiconductor
Metallic
Dielectric
Organic.
SOPRA GXR est un ellipsomètre compact et polyvalent conçu pour une analyse précise en couches minces dans le laboratoire de recherche et développement. Il mesure les paramètres de réflectance de la couche superficielle d'un échantillon, aidant à déterminer l'indice de réfraction, l'épaisseur de la couche et les constantes optiques. GXR se compose d'une source lumineuse à large bande, d'un polariseur variable et d'un analyseur rotatif, tous montés sur un bras réglable. Le faisceau de lumière de la source est polarisé et réfléchi sur l'échantillon. Le polariseur est modifié et la lumière elliptiquement polarisée résultante est alors détectée et mesurée par l'analyseur tournant qui mesure le déphasage et l'amplitude de la lumière après réflexion de l'échantillon. Les résultats peuvent ensuite être analysés pour déterminer les propriétés de l'échantillon. SOPRA GXR dispose de porte-échantillons pouvant accueillir jusqu'à 5 mm de diamètre, ce qui le rend bien adapté à l'examen de substrats plats comme les composants optiques à couches minces et les plaquettes semi-conductrices. Il est également capable de mesurer des angles incidents jusqu'à 75 ° et une polarisation jusqu'à 30 °, permettant à l'utilisateur de compenser toute dépolarisation induite par le substrat. GXR est équipé d'un étage d'élévation piloté par piézo qui permet la correction de focalisation ainsi que le rainurage d'échantillons pour les études d'épaisseur de couche. SOPRA GXR utilise des réglages de longueur d'onde laser et de polariseur qui le rendent compatible avec une variété de matériaux, y compris les diélectriques, les polymères et les nanomatériaux. De plus, ses fonctionnalités avancées permettent aux utilisateurs d'effectuer des mesures avancées, telles que l'analyse de structures topographiques multiples et des mesures multi-angles. Le logiciel polyvalent comprend plusieurs modes de traitement de données, et l'instrument peut être intégré dans des lignes de production automatisées. Dans l'ensemble, GXR est un excellent choix pour la caractérisation des propriétés des couches minces grâce à sa facilité d'utilisation, sa précision et sa polyvalence. Le design compact est idéal pour les laboratoires où l'espace est limité, et ses fonctionnalités avancées offrent une flexibilité pour les mesures d'application avancées.
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