Occasion TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 with K2IND/Nikon #9126174 à vendre en France

TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 with K2IND/Nikon
ID: 9126174
Wafer inspection system.
INSTRUMENT TECHNIQUE société KMS 300 avec K2IND/Nikon est un ellipsomètre qui est utilisé pour l'analyse des surfaces et des couches minces. Il mesure la réflexion et la réfraction de la lumière à une interface pour déterminer l'angle de réfraction, l'épaisseur et les constantes optiques du matériau étudié. Le KMS 300 est un instrument intégré et automatisé qui offre une gamme complète de capacités et de fonctionnalités d'analyse, y compris la mesure de films in situ avec le logiciel K2IND. Le KMS 300 utilise la technologie K2IND exclusive de Nikon, qui combine la technologie optique sophistiquée d'un microscope avec un équipement sophistiqué d'acquisition de données pour fournir aux utilisateurs des analyses très précises et détaillées. Le KMS 300 est conçu pour la recherche, le développement et la production. Le KMS 300 dispose d'un objectif autofocus et d'un système d'étalonnage automatisé qui permet aux utilisateurs de mettre en place leur expérience rapidement et efficacement. L'unité comprend un scanhead qui peut scanner sur une variété de tailles d'échantillons et de matériaux. La tête de scanhead permet également de collecter plusieurs bandes d'ondes, des UV aux IR, en même temps. La machine offre également une correction manuelle de la planéité des échantillons et des cartes automatisées de l'épaisseur des films pour une plus grande précision. Le KMS 300 utilise une source d'éclairage de l'échantillon couplée à un outil d'imagerie pour capturer la lumière réfléchie de la surface de l'échantillon. La lumière capturée est ensuite traitée à l'aide du processeur numérique à haut débit (DSP) pour déterminer l'angle de réfraction et les propriétés optiques du matériau échantillon. L'actif utilise un détecteur très sensible pour recueillir des données sur une large gamme d'épaisseurs d'échantillons et peut mesurer à la fois des couches minces transmissives et réfléchissantes jusqu'à 50 nm d'épaisseur. Le KMS 300 est capable d'effectuer des mesures dans une large gamme de températures ambiantes et de réglages d'humidité, jusqu'à 85 ° C et 95 % d'humidité relative, ce qui le rend idéal pour des applications de recherche et de développement. Le modèle est également conçu pour être convivial et comprend une interface graphique couleur utilisateur et des tutoriels auto-guidés pour un guidage minimal de l'utilisateur pour améliorer l'expérience utilisateur. Le KMS 300 est un instrument de recherche avancée qui est idéal pour les chercheurs et les ingénieurs qui exigent une analyse très précise et fiable des films minces. Il est robuste, précis et capable de fournir des résultats fiables sans avoir besoin d'un étalonnage et d'un entretien poussés, ce qui en fait le choix idéal pour l'analyse de couches minces.
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