Occasion TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 310 #9117073 à vendre en France

La société TECHNICAL INSTRUMENT KMS 310 est un ellipsomètre à longueur d'onde de 0,25 nm très avancé conçu pour des applications de recherche et développement dans les domaines de la métrologie des semi-conducteurs et du travail en laboratoire. Il a été conçu pour offrir un haut degré de précision et de répétabilité lors de la mesure de l'épaisseur des couches minces, de la composition des couches, des indices de réfraction et d'autres paramètres optiques. KMS 310 dispose d'une conception entièrement automatisée à 4 axes pour les plus hauts niveaux de précision. Cela permet de surveiller avec précision les paramètres de l'ellipse sur une large plage d'angle avec une grande vitesse et cohérence. L'instrument est également capable d'analyser les services fréquence-longueur d'onde et les techniques à faisceaux multiples pour mesurer les données de réflexion sur une gamme étendue. INSTRUMENT TECHNIQUE La société KMS 310 est alimentée par un spectromètre interne qui fournit aux utilisateurs un ensemble de données optiques précises et reproductibles sur toute la gamme. L'étape de scan latéral PEEK intégré capture une cartographie précise de la réflectivité des ellipsoïdes 3D de l'ensemble de la pile de film. Cela permet une évaluation optique précise des propriétés des couches minces et des couches minces lors du dépôt et du développement de nouvelles couches. KMS 310 offre des performances supérieures pour des processus de métrologie optique exigeants. La lecture du rapport d'aspect direct est améliorée grâce à l'inclusion d'une technologie MCVD (Multiple Channel Ellipsometer with Variable Measurement Delay). Le MCVD permet une mesure variable d'au plus quatre positions de longueur d'onde dans un seul cycle de mesure, avec une analyse résolue en angle jusqu'à 0,1 °. Cette technologie puissante permet aux utilisateurs d'analyser les empilements de films de la gamme des sous-nanomètres jusqu'à la gamme des sous-millimètres avec une précision incroyable. La société TECHNICAL INSTRUMENT KMS 310 fournit tout ce dont un utilisateur d'instrument a besoin pour la recherche et le développement de couches et de couches minces en laboratoire - résolution d'angle plus élevée, précision améliorée sur les films plus minces, temps de résultat plus rapide, analyse de surface améliorée, et beaucoup plus. Sa répétabilité et sa précision élevées en font un outil idéal pour les laboratoires liés aux nanofabrications et les laboratoires de l'industrie des semi-conducteurs.