Occasion ULVAC UNECS-FP-1850 #9314578 à vendre en France

ULVAC UNECS-FP-1850
Fabricant
ULVAC
Modèle
UNECS-FP-1850
ID: 9314578
Style Vintage: 2013
Spectral ellipsometer 2013 vintage.
ULVAC UNECS-FP-1850 est un ellipsomètre conçu pour mesurer l'épaisseur des couches minces et les constantes optiques. C'est un équipement polyvalent et de haute précision pour analyser des films et des matériaux dans les domaines de la fabrication de semi-conducteurs, disque dur, cellule photovoltaïque et panneau tactile de 1nm à 32µm. Le système de mesure automatisé offre une large gamme de tailles d'échantillons allant de 1mm à 13mm de diamètre. L'unité comprend une source laser incidente, qui fournit un faisceau lumineux monochromatique et collimaté. Le faisceau incident est ensuite modulé avec une combinaison de polariseurs puis focalisé dans une zone d'échantillonnage par un microscope. Après avoir traversé la couche d'échantillon, le faisceau est ensuite envoyé vers une caméra CCD, qui sert à mesurer les changements de paramètres ellipsométriques dus aux interférences dans les couches d'échantillon. La machine dispose d'un poste de chargement automatisé d'échantillons qui simplifie la manipulation de différentes tailles d'échantillons et augmente le débit. L'outil comprend l'angle de verrouillage de l'actif d'incidence et l'angle de trempe de l'incidence, fournissant une performance robuste dans l'analyse des échantillons à plusieurs angles d'incidence. La précision RMS du modèle est inférieure à 0,00003 radians, fournissant un niveau élevé de cohérence de mesure. Le logiciel avancé fourni avec l'équipement permet un traitement et une analyse des données faciles. L'affichage de données visuelles comprend une interface de ruban interactive. L'utilisateur peut choisir le type de données (ellipsométriques) affichées dynamiquement. Le logiciel comprend également une variété d'outils d'analyse tels que Épaisseur Vs. Temps, analyse spectrale, indice de réfraction et tableau des valeurs améliorées. Le système est conçu avec une unité très fiable et stable qui assure des résultats normalisés dans une large gamme de températures. Pour ce faire, on utilise un élément optique à température contrôlée et un joint de pression. L'opération est encore simplifiée avec un panneau tactile intuitif qui simplifie l'entrée de données. En bref, UNECS-FP-1850 a de nombreuses fonctionnalités qui en font un ellipsomètre particulièrement puissant et fiable pour les mesures minces et optiques. Il offre une machine polyvalente et pratique pour mesurer rapidement et avec précision une large gamme d'échantillons dans les domaines de la fabrication de semi-conducteurs, disque dur, cellule photovoltaïque et panneau tactile. Avec son logiciel avancé et son outil de mesure automatisé, l'actif permet une mesure facile, efficace et précise des échantillons.
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