Occasion WOOLLAM M-2000 #293771194 à vendre en France

WOOLLAM M-2000 est un ellipsomètre de pointe largement utilisé dans la recherche et les applications industrielles pour l'analyse et la caractérisation de couches minces. Cet instrument avancé fournit des mesures précises et précises des propriétés optiques des couches minces, telles que l'épaisseur, l'indice de réfraction et le coefficient d'extinction. L'ellipsomètre WOOLLAM M2000 est basé sur le principe de l'ellipsométrie, qui consiste à mesurer les variations de la lumière polarisée réfléchie à partir d'un échantillon pour extraire des informations sur ses propriétés en couches minces. L'instrument fonctionne dans la gamme spectrale des longueurs d'onde ultraviolette (UV) à proche infrarouge (NIR), ce qui permet une large gamme d'applications en science des matériaux, en semi-conducteurs et en nanotechnologie. M 2000 dispose d'un ellipsomètre spectroscopique haute performance qui peut être configuré avec plusieurs sources lumineuses, telles que des lampes halogènes en tungstène, des lampes au deutérium et des lasers, pour couvrir une large gamme spectrale. Cette flexibilité dans les sources lumineuses permet aux utilisateurs d'adapter la mesure aux propriétés spécifiques des matériaux et aux besoins des échantillons. Une des forces clés de M2000 ellipsometer est sa haute précision et exactitude dans la mesure des propriétés optiques. L'instrument est équipé d'algorithmes avancés et d'un logiciel d'analyse de données capable de traiter les données ellipsométriques mesurées pour extraire les paramètres essentiels des couches minces avec une grande fiabilité. Cette capacité fait l'idéal M-2000 pour caractériser des structures de multicouche complexes, des films minces et des couches avec la résolution de niveau du nanomètre. WOOLLAM M 2000 ellipsomètre est conçu pour la facilité d'utilisation et la polyvalence, permettant aux chercheurs et aux ingénieurs d'effectuer une large gamme de mesures avec un temps de montage minimal. L'instrument peut être équipé de divers accessoires, tels que des étages d'échantillons automatisés, des chambres environnementales et des outils de surveillance in situ, pour s'adapter à différents types d'échantillons et conditions expérimentales. En plus de ses mesures optiques hautes performances, WOOLLAM M-2000 propose des outils avancés de visualisation et d'analyse des données pour interpréter et présenter efficacement les résultats de mesure. L'interface logicielle de l'instrument offre un contrôle intuitif des paramètres de mesure, de l'acquisition de données et des routines d'analyse, permettant aux utilisateurs d'obtenir rapidement des informations précieuses sur les propriétés optiques des films minces. L'ellipsomètre WOOLLAM M2000 est également connu pour sa construction robuste et sa fiabilité, ce qui le rend adapté aux environnements de recherche en laboratoire et de production industrielle. La conception modulaire de l'instrument permet un entretien facile et des mises à niveau, assurant des performances à long terme et la compatibilité avec l'évolution des besoins expérimentaux. Dans l'ensemble, l'ellipsomètre M 2000 est un outil polyvalent et puissant pour l'analyse de couches minces, offrant des mesures de haute précision, des capacités d'analyse de données avancées et un fonctionnement convivial. Que ce soit dans la recherche universitaire, la caractérisation des matériaux ou le contrôle de la qualité industrielle, M2000 fournit des informations précieuses sur les propriétés optiques des films minces avec une précision et une efficacité exceptionnelles.