Occasion HITACHI M 8170 XT #9137307 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI M8170 XT (SEM) est un microscope électronique à haute performance pour la recherche avancée et l'imagerie. Il utilise une technologie à double faisceau pour permettre la manipulation de structures tridimensionnelles à des résolutions nanométriques. Ce microscope électronique de pointe possède une colonne haute performance qui est combinée à une grande variété de détecteurs haut de gamme. M8170 XT dispose d'un canon électronique à haute résolution à émission de champ (EGE) qui peut être utilisé jusqu'à 5kV pour des applications polyvalentes. Le microscope dispose également d'un canon à électrons 10kV pour l'imagerie précise des échantillons et d'un étage de microscope à inclinaison nulle pour l'imagerie à haute résolution. Le GEE revêtu de chrome peut être utilisé pour l'observation de microstructures et l'analyse d'espèces d'éléments légers comme le carbone et l'oxygène. En utilisant le système de lentilles haute performance et l'EGE, HITACHI M8170 XT peut atteindre une résolution spatiale étonnamment élevée de < 1 nm. L'imagerie haute définition du système objectif offre une résolution de 0,7 nm en rétrodiffusion et de 0,25 nm en électrons secondaires. Cela garantit que vous pouvez capturer des informations détaillées sur les échantillons sans compromettre la résolution en imagerie. En outre, M8170 XT supporte l'utilisation de l'excitation photothermique, dans laquelle une impulsion laser ultra rapide est utilisée pour obtenir des capacités de cartographie nanométrique. Il peut également être utilisé pour visualiser avec une grande précision la répartition des éléments élémentaires dans l'échantillon. HITACHI M8170 XT est également très adaptable pour la caractérisation complexe des échantillons. Sa plate-forme de balayage offre un balayage multimodal avec dépôt induit par faisceau d'électrons (EBID), analyse des rayons X dispersifs d'énergie (EDXA) et microscopie électronique à transmission par filtrage d'énergie (EFTEM). Cela permet à l'utilisateur d'opter pour la meilleure approche pour ses échantillons. Le contrôle avancé de M8170 XT a plusieurs fonctions comme la mise au point automatique, l'acquisition automatisée d'images SEM, et l'option de taille de balayage automatique. Cela fournit une imagerie de haute qualité chaque fois que vous voulez voir les nanostructures en détail. Le microscope électronique à balayage HITACHI M8170 XT est un outil polyvalent pour la recherche avancée et l'imagerie. Il dispose d'un système de lentilles haute performance, d'un canon à électrons à haute résolution et d'une gamme de détecteurs haut de gamme. Ce microscope électronique offre une résolution spatiale étonnante de < 1 nm et permet le balayage multimodal des surfaces d'échantillons avec EBID, EDXA et EFTEM. En outre, il peut également être utilisé pour l'excitation photothermique pour fournir des capacités de cartographie à l'échelle nanométrique. Enfin, il est également très convivial avec la mise au point automatique, l'acquisition automatisée d'images SEM, et l'option de taille de balayage automatique, ce qui en fait un outil exceptionnel pour l'imagerie avancée.