Occasion KLA / TENCOR IB840F #9293038 à vendre en France

KLA/TENCOR IB840F est un équipement d'installation conçu pour inspecter la surface délicate de la plaquette produite après le processus CMP. L'équipement est composé de quatre modules indépendants et interconnectés spécifiquement pour l'examen structurel comprenant l'acquisition d'images numériques, l'étalonnage de l'autofocus, l'examen de l'éclairage et l'analyse d'images. Le module d'acquisition d'images numériques (DIA) mesure les propriétés optiques non-ligne de visée d'un échantillon au niveau des pixels. Le module DIA utilise deux caméras réseau indépendantes basées sur le débit. Le module Étape Autofocus Calibration (SAFC) positionne avec précision la plaquette à inspecter. Le module SAFC est équipé d'un étage linéaire bidimensionnel et d'un mécanisme de réglage fin à cinq étages. Le module Examen de l'illumination (IR) inspecte avec précision les caractéristiques microscopiques de l'échantillon. Le module IR utilise un large éventail de motifs d'éclairage qui peuvent accueillir différents matériaux et structures. Enfin, le module d'analyse d'image (IA) fournit de puissants outils d'analyse d'image et de caractérisation. Le module IA utilise un outil assisté par ordinateur qui permet aux utilisateurs de mesurer plusieurs paramètres d'une structure. Ce module utilise également un algorithme de prise de décision automatisé pour détecter les défauts critiques. Pour garantir des résultats précis et fiables, KLA IB840F est intégrée avec des technologies et des fonctionnalités à jour, y compris l'optique adaptative, les taux variables de pixels natifs et le contrôle de la bande passante du numériseur. Le système utilise des optiques de pointe et des sources d'éclairage de grande puissance pour détecter des caractéristiques délicates jusqu'au niveau des sous-microns. Ses systèmes de caméras fonctionnent jusqu'à 256 images par seconde pour générer et acquérir des images haute résolution. Outre cela, l'unité comprend une roue de filtre couleur qui aide à acquérir des images de plusieurs couleurs. De plus, les algorithmes avancés d'analyse de données de la machine permettent aux utilisateurs d'extraire des informations détaillées basées sur la physique pour identifier avec précision les défauts. De plus, son interface utilisateur intuitive fournit une représentation graphique des données qui aide les chercheurs à comparer facilement les images. En conclusion, TENCOR IB840F est un équipement d'installation convivial et très fiable qui est utilisé pour inspecter les structures et les surfaces délicates des plaquettes produites après les processus CMP. Cet outil est équipé d'une variété de fonctionnalités telles que l'optique adaptative, les taux variables de pixels natifs, le contrôle de la bande passante du numériseur et les filtres couleur. En outre, il est intégré avec des algorithmes avancés d'analyse de données qui aident à détecter les défauts critiques.