Occasion ADVANTEST T 2000 #9165412 à vendre en France
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ID: 9165412
Style Vintage: 2013
Tester
Configuration:
Board Module
(8) DPS 500mA
(22) 800Mbps DM
(2) LCDPS
(2) BBWGD
(4) PMU32
(2) AAWGD
(1) RC5V
Module information:
[MODULE] [SLOT] [BUS] [CHANNEL]
LCDPS 5 5 1 - 8
LCDPS 48 28 9 - 16
AnalogSync 26 17 EXIST
DPS500mA 6 6 1 - 32
DPS500mA 32 12 33 - 64
DPS500mA 33 13 65 - 96
DPS500mA 20 23 97 - 128
DPS500mA 9 35 129 - 160
DPS500mA 19 49 161 - 192
DPS500mA 46 55 193 - 224
DPS500mA 43 58 225 - 256
SyncGen36 1 1 EXIST
JMM 52 24 1 - 8
BBWGD 35 41 1 - 32
BBWGD 17 51 33 - 64
DM800MBPS 2 2 1 - 128
DM800MBPS 3 3 129 - 256
DM800MBPS 4 4 257 - 384
DM800MBPS 28 8 385 - 512
DM800MBPS 29 9 513 - 640
DM800MBPS 30 10 641 - 768
DM800MBPS 31 11 769 - 896
DM800MBPS 25 18 897 - 1024
DM800MBPS 24 19 1025 - 1152
DM800MBPS 23 20 1153 - 1280
DM800MBPS 22 21 1281 - 1408
DM800MBPS 51 25 1409 - 1536
DM800MBPS 50 26 1537 - 1664
DM800MBPS 49 27 1665 - 1792
DM800MBPS 12 38 1793 - 1920
DM800MBPS 13 39 1921 - 2048
DM800MBPS 38 44 2049 - 2176
DM800MBPS 39 45 2177 - 2304
DM800MBPS 15 53 2305 - 2432
DM800MBPS 14 54 2433 - 2560
DM800MBPS 41 60 2561 - 2688
DM800MBPS 40 61 2689 - 2816
AAWGD 36 42 1 - 32
AAWGD 16 52 33 - 64
PMU32 7 33 1 - 32
PMU32 10 36 33 - 64
PMU32 45 56 65 - 96
PMU32 42 59 97 - 128
SyncMtx36 56 - EXIST
SyncMtx36 54 - EXIST
2013 vintage.
Le système de test final T 2000 est utilisé pour effectuer les tests finals sur les circuits intégrés (IC) et le système sur puces (SOC). C'est une plate-forme modulaire qui utilise les dernières technologies de test et les services de test pour garantir des tests de haute qualité. L'unité est conçue pour répondre aux besoins des fabricants et des maisons d'essai d'IC et de SOC à petite et grande échelle. La gamme de fonctionnalités de la Société EST T2000 permet de maximiser la qualité tout en maintenant un débit rapide et un bon rapport coût-efficacité. Il dispose d'un bus machine haute vitesse et d'une architecture de test qui permettent des tests multi-sites, des débits élevés et la fiabilité. L'outil dispose d'un module de mesure analogique haute vitesse, d'une carte sonde haute densité et peut être configuré pour plusieurs DUT. L'actif contrôle un large éventail de stratégies de test, qui comprennent l'essai des caractéristiques paramétriques, des fils de connexion et des fils de puissance, et des tests d'isolation. Il dispose également d'un support intégré pour divers algorithmes de test et structures de test, ce qui permet d'améliorer la précision et l'exhaustivité des tests. Cela offre un niveau de qualité de production plus élevé. Le modèle offre également des capacités avancées d'inspection des défauts. Son détecteur de défauts optiques permet d'identifier rapidement les interrupteurs à faible signal et les opérations incorrectes des DUT. L'équipement offre également une métrologie en ligne pour des tests complets, qui peuvent détecter même des défauts à petite échelle. T 2000 est optimisé pour la flexibilité, permettant l'essai simultané de plusieurs catégories de produits. Il est également capable de génération automatique de programmes de test (ATPG), ce qui minimise l'effort requis dans la programmation et la maintenance des programmes de test. Le système dispose également d'une architecture de flexibilité de test (TFA). Cette architecture est basée sur une superposition de virtualisation qui permet à l'unité de s'adapter dynamiquement aux changements dans la logique, le paquet, les exigences de test et les méthodes de test. La superposition permet également de tester et de synthétiser l'interface de liaison de données. Enfin, la machine s'intègre facilement à l'automatisation des laboratoires de test, ce qui permet une surveillance globale des tests et des outils. Il est ainsi facile de mesurer, d'analyser et de comparer rapidement les résultats des tests à différents endroits, et de gérer les rapports et les données générées. En résumé, T2000 Final Test Asset est un modèle complet et flexible qui offre aux fabricants d'IC et de SOC un large éventail de services et de capacités de test. Il offre des débits élevés, la fiabilité et la précision, ainsi que des capacités avancées d'inspection des défauts. De plus, son architecture de flexibilité de test permet de s'adapter facilement à l'évolution de la logique et des exigences de test, et elle s'intègre facilement aux systèmes d'automatisation de laboratoire de test.
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