Occasion ADVANTEST T 5365 #162878 à vendre en France
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ID: 162878
Memory test system
Configuration:
SYSTEM CONFIGURATION LIST
SYSTEM IDENTIFICATION
CONFIGURATION OF TEST HEAD
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE 1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> 2
PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105]
CHILD A ....> 33,41,97,105
CHILD B ....> 33,41,97,105
CHILD C ....> 33,41,97,105
CHILD D ....> 33,41,97,105
CHILD E ....> 33,41,97,105
CHILD F ....> 33,41,97,105
CHILD G ....> 33,41,97,105
CHILD H ....> 33,41,97,105
PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD? [Y,N]
CHILD A ....> NO
CHILD B ....> NO
CHILD C ....> NO
CHILD D ....> NO
CHILD E ....> NO
CHILD F ....> NO
CHILD G ....> NO
CHILD H ....> NO
PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD? [Y,N]
CHILD AB ...> NO
CHILD CD ...> NO
CHILD EF ...> NO
CHILD GH ...> NO
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
TEST HEAD TYPE 1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> 2
PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105]
CHILD A ....> 33,41,97,105
CHILD B ....> 33,41,97,105
CHILD C ....> 33,41,97,105
CHILD D ....> 33,41,97,105
CHILD E ....> 33,41,97,105
CHILD F ....> 33,41,97,105
CHILD G ....> 33,41,97,105
CHILD H ....> 33,41,97,105
PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD? [Y,N]
CHILD A ....> NO
CHILD B ....> NO
CHILD C ....> NO
CHILD D ....> NO
CHILD E ....> NO
CHILD F ....> NO
CHILD G ....> NO
CHILD H ....> NO
PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD [Y,N]
CHILD AB ...> No
CHILD CD ...> No
CHILD EF ...> No
CHILD GH ...> No
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> NO
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
1'ST GPIB I/F BOARD 0.NONE
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] .........> 0
2'ND GPIB I/F BOARD 0.NONE
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] .........> 1
DMM TYPE 1.TR6861
2.R6871E
3.R6551 [1-3] .........> 3
AC FREQUENCY (HELTZ) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF TG
OPTION CLOCK : 48 EDGES [Y,N] .......................> NO
CONFIGURATION OF ALPG
SUB PG [Y,N] ....................................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0-8] ...........................> 0
PATTERN MEMORY [Y,N] ................................> NO
CONFIGURATION OF VRAM
VRAM3 OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FCDC
PIN CPE SEL [Y,N] ...........................> NO.
ADVANTEST T 5365 est un équipement d'essai final d'ADVANTEST Corporation, un chef dans l'industrie d'essai de semi-conducteur. Ce système est conçu pour tester et vérifier les propriétés opérationnelles des circuits intégrés. L'unité est un testeur à haut débit avec une vitesse d'essai maximale de 25 MHz et un temps de cycle minimal de 100 microsecondes. Il est capable de tester plusieurs appareils simultanément, de tester jusqu'à 1,6 million de broches par heure, et peut être utilisé dans des modes de fonctionnement manuels, semi-automatiques ou entièrement automatiques. ADVANTEST T5365 est muni avec deux têtes d'essai qui peuvent être personnalisées pour les applications d'essai différentes. Il dispose d'une carte de génération d'impulsions intégrée, qui fournit des signaux de chronométrage précis et à grande vitesse pour les tests. La machine dispose également d'un grand moniteur LCD pour un suivi facile des tests et des performances. Le testeur dispose d'un outil de connectivité numérique intégré pour l'intégration avec les périphériques et les systèmes de contrôle. Le testeur peut être configuré pour la communication avec des systèmes externes via IEEE-488 ou Ethernet, pour des applications de transfert de données à grande vitesse ou de télécommande. L'environnement d'essai comprend des panneaux modulaires prêts à l'essai qui permettent des essais de haute performance des dispositifs. L'actif contient également des capacités de diagnostic automatisé des pannes, qui peuvent détecter et signaler les erreurs dans les applications rapides et à haute densité. Le modèle T 5365 est conçu avec des caractéristiques de sécurité intégrées, ce qui le rend idéal pour une utilisation dans les environnements les plus exigeants. Les lignes électriques et les lignes de données sont protégées par une protection élevée contre les surtensions et une protection contre l'EDD, tandis que les canaux d'entrée et de sortie sont protégés par une protection excessive. Les composants matériels de l'équipement sont conçus pour tolérer les chocs, les vibrations et les températures extrêmes, ce qui le rend adapté à l'utilisation de la chaîne de production. Dans l'ensemble, T5365 système de test final est conçu pour des essais de haute précision et la vérification de circuits intégrés dans une gamme d'industries. Il dispose de vitesses de test rapides, de compteurs de broches à haute densité, de détecteurs et de diagnostics automatisés de pannes, et d'une large gamme de fonctions de sécurité, ce qui en fait une unité fiable et capable pour les tests en ligne de production industrielle.
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