Occasion ADVANTEST T 5371 #9123475 à vendre en France
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ID: 9123475
Tester
Pogo tower M/B
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 2
NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES.
L "équipement d'essai final de la technologie de fabrication T 5371 est un testeur de qualité conçu pour tester les appareils de la manière la plus fiable et la plus rentable possible. Le système a été conçu avec l'idée de permettre aux utilisateurs d'évaluer rapidement et avec précision les performances de l'appareil dans une variété de scénarios et est bien adapté pour maximiser la qualité et le rendement des processus de production. ADVANTEST T5371 présente un design modulaire et est facilement personnalisé pour rencontrer les besoins de chaque client. L'ensemble adaptable de canaux de test permet d'optimiser le test avec des configurations très flexibles de 3 ou 4 fils. Les réglages programmables permettent également de tester rapidement et facilement une grande variété d'appareils tout en minimisant le besoin de dispositifs de test supplémentaires ou de pièces personnalisées. L'unité de test est également équipée d'un bus de test à grande vitesse, conçu pour accélérer les processus de test. Cette machine peut préformer rapidement des contrôles de fonctionnement, des tests et des mesures à des vitesses allant jusqu'à 8 μ s/point. En outre, l'outil prend en charge un certain nombre de types d'appareils, y compris les IC analogiques, les MOS, les transistors et les configurations inter-numériques. Parmi les autres caractéristiques du T 5371, mentionnons une bibliothèque complète de tests standard, de programmes de test et de bibliothèques de programmes, une variété d'options de tests distribués et une interface utilisateur tout-en-un spécialement conçue pour faciliter le fonctionnement et la validation. Des capacités de détection et de diagnostic des erreurs sont également fournies, permettant aux utilisateurs d'identifier et de corriger rapidement les erreurs de test. T5371 est un atout de test fiable et puissant, fournissant aux utilisateurs un outil complet pour évaluer rapidement et avec précision les performances du dispositif. Sa conception modulaire efficace, son bus de test à grande vitesse et ses capacités de détection d'erreurs en font la solution idéale pour maximiser la productivité et le rendement tout en garantissant la qualité de la production des appareils.
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