Occasion ADVANTEST T 5375 #162944 à vendre en France
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ID: 162944
Memory test system
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 16
SIZE OF FMRA BOARD [0:0G,1:1.44G,2:2.88G] ..........> 1
TYPE OF CFM [1:TYPE-1,2:TYPE-2] .............> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G] .....................> 1
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO.
C'est un équipement d'essai final intégré développé par le leader mondial des solutions d'essai de semi-conducteurs, l'équipe de test T 5375. Le système est basé sur la dernière technologie Silicon Test Platform (SIP), offrant une capacité flexible et rentable pour un large éventail d'exigences de test pour divers microprocesseurs, mémoires et dispositifs logiques. ADVANTEST T5375 inclut un ordinateur central et un certain nombre de cartouches qui fournissent la flexibilité pour soutenir un large éventail d'appareils. L'ordinateur central se compose de deux systèmes informatiques hôtes, dont une unité d'interface graphique basée sur Windows et une machine d'instrumentation distribuée basée sur PXI. Cela permet de contrôler au niveau de l'hôte toutes les activités de test, y compris la configuration et la collecte de données. De plus, le T 5375 dispose de multiples interfaces de test intégrées supportant des tâches de test haute vitesse, basse tension et standard. T5375 outil utilise un certain nombre d'instruments et de technologies d'essai différents. L'actif dispose d'un test intégré au niveau du modèle qui fournit une couverture complète des défauts. L'équipement de test est basé sur l'architecture SIP, qui est optimisée pour soutenir le test des dispositifs de comptage de broches élevées. Cela inclut les tests basse tension, un certain nombre de tests de gravure, sondes et accessoires. Le système peut être programmé pour effectuer plusieurs types de tests tels que des tests haute tension, source d'horloge, plot programmable et des tests propriétaires. L'unité comprend un certain nombre de fonctionnalités supplémentaires telles qu'un oscilloscope programmable à des fins de débogage. De plus, le système EST T 5375 a intégré la collecte et l'analyse de données, permettant aux utilisateurs de produire et d'analyser des données d'essai en temps réel. Cela permet aux utilisateurs d'identifier rapidement et précisément les causes profondes de la défaillance et des performances marginales des dispositifs, contribuant à réduire le nombre de réparations inutiles et à améliorer les rendements sur le terrain. ADVANTEST T5375 est une solution d'essai avancée pour une variété de microprocesseurs, souvenirs et appareils logiques. Avec ses fonctionnalités avancées et ses capacités intégrées de test et de débogage au niveau de la machine, il est une solution puissante et rentable pour tout besoin de test de semi-conducteur.
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