Occasion ADVANTEST T 5375 #9158916 à vendre en France
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ID: 9158916
Style Vintage: 2005
Tester
Number of test head: 1
Configuration of test head
Pin configuration
512DR+ 320I / O (quarter)
1024DR+ 640I /O (half)
2048DR+1280I /O (full): 3
Type of DR PE [1:DR PE, 2:24Ch HVDR PE]: 1
Configuration of test head:
PE Board
Not exist
Exist
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B 1 1 1 1
CHILD C,D 1 1 1 1
CHILD E,F 1 1 1 1
CHILD G,H 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B 1 1 1 1
CHILD C,D 1 1 1 1
CHILD E,F 1 1 1 1
CHILD G,H 1 1 1 1
P-1
Configuration of DPU:
Test head 1 DC configuration [1-64]: 1-64
PPS Configuration [1-256]: 1-256
AC Frequency (Hz) [50,60]: 50
Configuration of FTU
Flash option [Y,N]: No
Configuration of FM:
Number of FMRA board [0-16]: 0
Size of FMRA board [1:8G, 2:16G]: 0
PM (pattern memory) board exist [Y,N]: No
Configuration of MRA:
MRA4 Exist [Y,N]: No
2005 vintage.
L « équipement d » essai final de la série T 5375 est conçu pour effectuer des essais rapides et de grande précision sur des dispositifs à semi-conducteurs complexes et à forte densité de broches. Le système est conçu pour augmenter les rendements et réduire les coûts grâce à sa combinaison de technologies de pointe qui lui permettent de réaliser des essais à haute vitesse à haut volume. Au cœur de l'unité se trouve le testeur Smart-SASS, qui offre des capacités de test haute résolution sur une large gamme de plages de température et de tension. Il dispose également d'une bibliothèque de solutions de sondes en expansion rapide, sélectionnées pour leur stabilité mécanique et leur précision supérieures. La machine est contrôlée par une suite logicielle puissante, intuitive et facile à utiliser basée sur Windows, qui fournit un point central pour le développement, le débogage et le stockage des programmes de test des appareils. Il fournit également une interface pour contrôler le fonctionnement du testeur Smart-SASS et d'autres composants de l'outil. ADVANTEST T5375 offre le soutien en faveur des plans de marquage d'ACCUSÉ complexes et des structures d'essai facilement reconfigurables, en le rendant idéal pour travailler avec les appareils de haut comte de l'épingle. En outre, l'actif fournit un soutien pour la détection et l'étalonnage à grande vitesse, permettant d'identifier et de corriger rapidement les dispositifs défectueux dans des environnements de production à haut volume. Le modèle utilise un certain nombre de technologies supplémentaires qui améliorent ses capacités de test. Cela comprend un générateur d'horloge à haut débit, qui garantit que les flans d'appareil peuvent être testés à des vitesses très élevées pour la fabrication à haut volume ; une grille de référence à l'écran, utilisée pour les essais paramétriques au niveau des plaquettes ; et On-Wafer Probe, qui augmente la précision des tests en localisant précisément les flans des appareils pour les tests. En outre, l'équipement dispose d'un ensemble de simulation de température intégré qui permet de simuler diverses conditions de température, offrant une représentation plus précise des performances dans le monde réel. Dans l'ensemble, le T 5375 est une solution de test puissante et rentable qui fournit des tests de haut volume et de haute précision des dispositifs semi-conducteurs. En combinant des technologies de pointe avec une gamme de fonctionnalités de support de test, le système est conçu pour aider à réduire les coûts et à augmenter le rendement tout en répondant aux normes les plus élevées de précision et de fiabilité.
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