Occasion ADVANTEST T 5375 #9166525 à vendre en France
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ID: 9166525
Style Vintage: 2002
Memory tester
Single head
Configuration of test head
Pin configuration
512DR+ 320I/O(QUARTER)
1024DR+ 640I/O(HALF)
1536DR+ 640I/O(FULL)
2048DR+ 640I/O(FULL)
1536DR+1280I/O(FULL)
2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> No
SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G,3:4G,4:9G] ...........> 1
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO
2002 vintag
Le test T 5375 est un équipement de test final utilisé dans le processus de production de puces pour s'assurer que les puces remplies sont fonctionnelles et répondront aux exigences du client. Il est utilisé dans les sondes de plaquettes à grande échelle, où une grande quantité de puces peut être testée dans des délais courts. Le système dispose de fonctions de test puissantes et polyvalentes qui permettent de tester facilement des dispositifs de mémoire à haut volume tels que SRAM, DRAM, et Flash. Le système EST T5375 comprend une architecture de contrôle de test améliorée, des systèmes d'accès de test pour des programmes plus fiables et des capacités de génération de modèles de test automatisés. Il peut également intégrer des fonctions d'analyse des résultats pour évaluer les résultats des tests pour divers problèmes. L'interface facile à apprendre permet une adoption rapide, tout en permettant aux ingénieurs d'obtenir de précieuses données de test qui peuvent être utilisées pour affiner et optimiser le processus de test. T 5375 est chargé avec des capacités matérielles puissantes pour répondre à un large éventail de besoins de test. L'unité comprend une carte mezzanine sans délai d'attente (T.N.-O.) haute vitesse avec une interface MCTest ouverte 64 bits de 8 canaux pour un accès parallèle rapide de plusieurs puces et la machine Advanced hardware Trigger (AHT) qui accélère le temps de test sur plaquette. Il utilise également une architecture de carte mémoire avancée qui comprend des cartes DSP avancées, 603PPC Field-Programmable Gate Array (FPGA) pour l'unité de contrôle, et une interface de dispositif SRAM pour tous les appareils de mémoire. T5375 utilise également une technologie de positionnement linéaire de haute précision pour permettre un contrôle de position précis pendant le processus d'essai. Cette technologie permet un alignement et un positionnement précis des sondes pour assurer un alignement fiable des plaquettes. De plus, ADVANTEST T 5375 peut être facilement programmé pour diriger la variation de processus et fournir aux résultats d'essai exacts la variabilité minimale pour une large variété de produits et de processus. En plus, ADVANTEST T5375 incorpore des fonctions de direction d'environnement d'essai complètes, en incluant le soutien de JTAG en temps réel en faveur de la manipulation facile d'organisations d'essai et de programmation. L'environnement de test est également équipé d'un contrôle automatisé des paramètres de test et d'un réglage des paramètres basé sur les résultats de test pour s'assurer que chaque puce est testée avec les mêmes paramètres. T 5375 peut effectuer des tests sur plusieurs échantillons en même temps, fournissant un débit et une productivité maximum. Dans l'ensemble, T5375 est un outil de test final puissant et fiable pour garantir des résultats corrects et valider que chaque puce répond aux exigences des clients. Son jeu de fonctionnalités polyvalent et ses fonctions avancées permettent aux fabricants de puces de maximiser la vitesse, l'efficacité et la précision des tests. C'est la solution idéale pour livrer des produits de qualité sur le marché très concurrentiel d'aujourd'hui.
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