Occasion ADVANTEST T 5375 #9181104 à vendre en France

ADVANTEST T 5375
Fabricant
ADVANTEST
Modèle
T 5375
ID: 9181104
Memory tester /DIAG/G SYSTEM CONFIGURATION GENERATE CONFIGURATION OF TEST HEAD PIN CONFIGURATION 1.512DR+ 320I/O(QUARTER) 2.1024DR+ 640I/O(HALF) 3.1536DR+ 640I/O(FULL) 4.2048DR+ 640I/O(FULL) 5.1536DR+1280I/O(FULL) 6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6 NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1 CONFIGURATION OF TEST HEAD 1 PE BOARD 0.NOT EXIST 1. EXIST DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 CHILD E,F ....> 1 1 1 1 CHILD G,H ....> 1 1 1 1 IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 CHILD E,F ....> 1 1 1 1 CHILD G,H ....> 1 1 1 1 CONFIGURATION OF DPU TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64 PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256 TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 0 PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 0 AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60 CONFIGURATION OF FTU FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES CONFIGURATION OF FM NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0 PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> NO CONFIGURATION OF MRA MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO END SAVE.
ADVANTEST T 5375 est un équipement d'essai de finale de haute performance conçu à l'utilisation dans la production d'appareils de semi-conducteur sophistiqués. Ce système est capable d'effectuer des tests complets de circuits intégrés à matrices nues et emballées avec son gestionnaire automatique multi-sites, son testeur et sa chambre de choc thermique. ADVANTEST T5375 soutient la pleine capacité d'essai du numérique, le signal mélangé et les formats d'essai analogiques dans une unité simple. Les capacités complètes de test numérique vectoriel sont fournies par une unité de mémoire programmable étape vectorielle qui supporte les protocoles JTAG, IEEE 1149.1 et IEEE 1149.6. Les capacités du signal mixte sont fournies par un testeur analogique/signal mixte avec une machine de test paramétrique dynamique exclusive, qui permet des tests analogiques et numériques à grande vitesse. L'outil soutient également la programmation des actifs et la vérification des performances. T 5375 offre une interface graphique conviviale, avec une variété de fonctions de test automatisées. Cette interface permet une intégration transparente avec la ligne de production du client et les systèmes de base de données externes, tels que les systèmes de contrôle de processus ou de diagnostic. Il prend en charge la planification flexible des tests, le paramétrage complet, les programmes de tests multiples, l'enregistrement des données, le reporting et la tendance en temps réel, la présentation et le reporting de données personnalisables, et un large éventail de rappels de paramètres. T5375 est également équipé d'un gestionnaire automatique multi-sites pour configurer et traiter rapidement plusieurs configurations d'appareils testés. Ce manipulateur est capable de manipuler des matrices nues jusqu'à 3.2mm de taille, avec jusqu'à 160 appareils par plateau. Il supporte également des opérations d'assemblage et de montage de haute précision dans la manipulation des puces, cadres, planches et fixations. La chambre de chocs thermiques de la société de pointe T 5375 est également équipée d'une chambre de choc thermique automatisée qui permet de tester des appareils sur une large gamme de températures. La chambre dispose d'une capacité de multi-programmation avancée, ce qui permet de programmer et de stocker jusqu'à 32 tests pour une récupération facile. Cette fonctionnalité permet des tests de performance rapides et robustes des IC utilisés dans les environnements automobile, médical, aérospatial et autres environnements de température extrême. En général, ADVANTEST T5375 fournit une solution complète, automatisée à l'essai de circuits intégrés, en le rendant une option attrayante pour les compagnies qui exigent l'essai étendu. Avec sa vaste liste de caractéristiques, ce modèle de test final est un choix idéal pour la production de dispositifs semi-conducteurs.
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