Occasion ADVANTEST T 5375 #9262805 à vendre en France
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ID: 9262805
Memory tester
With test head
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION
1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
TYPE OF DR PE [1:DR PE, 2:24CH HVDR PE] .............> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD
0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO.
L "équipement d'essai final de l'ÉCO T 5375 est un système d'essai fiable et efficace utilisé pour l'inspection et la vérification des circuits intégrés, des dispositifs au niveau de la carte et de tout composant nécessitant une vérification d'essai. Il offre une large gamme d'options pour des performances de haute précision et de vitesse rapide. L'unité de test offre une plate-forme modulaire pour des tests rapides, flexibles et précis. Il est capable de tester un large éventail de technologies telles que les transistors à petits contours (SOI), le réseau à billes (BGA) et l'emballage à puce à plusieurs niveaux (MLCCS). Il dispose également d'une gamme complète d'utilitaires de diagnostic et de capacités de tests automatisés. ADVANTEST T5375 est construit avec un protocole d'interface universelle (UIP) à grande vitesse qui y permet de se connecter avec une variété d'équipement externe tel qu'Automatic Test Equipment (ATE), équipement de Circuit essai (ICT) et plates-formes de développement intégrées. Il fournit également des sondes personnalisables pour l'optimisation des performances. Son environnement flexible prend en charge l'automatisation et la personnalisation pour les tests matériels en boucle (HIL) et logiciels en boucle (SIL). Le mode impédance des moteurs offre des tests fonctionnels et électriques avancés des circuits intégrés. Cela permet d'ajuster la fréquence des sondes, le temps de balayage, le vecteur de test et les réglages de tension. Le générateur automatique de patrons de test (ATPG) permet la génération de patrons de test personnalisés qui peuvent être facilement chargés dans la machine pour plus de dépannage de niveau de boîte noire. T 5375 comprend un outil d'étalonnage flexible conçu pour la répétabilité mécanique et la précision. L'actif d'étalonnage peut être utilisé pour ajuster les paramètres des différents paramètres de test. Il aide à s'assurer que les testeurs fournissent des résultats précis pour tous les appareils testés. T5375 est conçu avec des mesures de sécurité supérieures telles que l'alimentation flottante, les accessoires de protection, les contours de température et d'autres mesures de protection contre la surtension et les surtensions. Le système de simulation T 5375 est idéal pour la simulation au niveau du modèle et les essais fonctionnels sur des applications telles que l'automobile, les appareils mobiles, l'électronique grand public, l'industrie et d'autres domaines d'application très exigeants. Il combine des performances à haute vitesse avec précision et précision pour des tests fiables. En tant qu'équipement d'essai efficace et rentable, le système EST T5375 a été largement utilisé par les fabricants et les ingénieurs pour diverses applications d'essai.
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