Occasion ADVANTEST T 5375 #9396775 à vendre en France
URL copiée avec succès !
ID: 9396775
Memory tester
Test station
3712 Channels
Dr: 2048 Channels
I/O: 1280 Channels
DC: 128 Channels
LVDr: 256 Channels
FC: 72 Channels
DC Test unit: 64 Channels / STN
Programmable Power Supply PPS (Maximum 0.8A)
256 Channels / STN
(8) Failure analysis memory (1Gbits / board)
Flash memory function
SH7-0760X04 Mother board.
L "équipement d'essai final de la série T 5375 est un système ATE automatisé haut de gamme (Automatic Test Equipment) qui fournit des tests de production complets et reproductibles pour des dispositifs semi-conducteurs complexes et à haut volume. Cette unité est fiable, robuste et hautement configurable pour une large gamme de dispositifs semi-conducteurs, avec une densité jusqu'à 810 UPH (Unités par Heure). C'est une machine de test multi-sites non invasive qui supporte jusqu'à 28 sites de test analogiques et/ou numériques. L'outil de test final ADANVANTEST T5375 comprend une grande variété de fonctionnalités pour garantir des tests efficaces. Il comprend des systèmes de test analogique et numérique avec acquisition de données à grande vitesse pour tester des IC avec jusqu'à 8 sites en même temps. En outre, il fournit des progiciels de solution totale polyvalents, une analyse approfondie des données des périphériques, un support pour de nombreux formats d'emballage, des tests non-stop pour les périphériques mixtes et une liste de paramètres personnalisables. Il comprend également de nombreuses fonctions de calcul automatisé qui assurent l'optimisation des paramètres opérationnels et augmentent la fiabilité. La performance du T 5375 Final Test Asset est exceptionnelle. Il offre une capacité de test à grande vitesse, et un débit élevé pouvant atteindre 1,2 GHz pour les essais parallèles. Il permet également un large éventail de paramètres et de procédures d'essai, avec des solutions telles que la correction du niveau et du timing en vol, et la sélection du taux d'échantillonnage. De plus, grâce à ses fonctions avancées de diagnostic de défaut et d'analyse, il est capable de créer des rapports de test détaillés pour mieux comprendre l'appareil testé. Pour l'amélioration opérationnelle de plus, le Modèle D'essai de Finale de T5375 offre la commande du processus complète et la surveillance des traits. Il comprend un soutien pour l'acquisition et le traitement à grande vitesse des données des CGT, ainsi qu'une variété d'autres ensembles de contrôle de processus. Son ensemble de contrôle automatisé des processus permet une conversion complète A/D et la surveillance des paramètres, ce qui est essentiel pour des tests efficaces et le respect des normes établies. Dans l'ensemble, l'équipement d'essai final de la technologie de pointe T 5375 est un puissant système ATE qui peut fournir des résultats d'essai rapides et fiables pour les appareils à semi-conducteurs à haut volume. Il est hautement configurable et offre des solutions de test complètes pour une variété d'IC et de paquets. Il dispose d'une interface conviviale, de capacités de test à grande vitesse et d'excellentes fonctionnalités de contrôle et de surveillance des processus. Il est adapté aux applications de production et de prototypage, et il est un excellent choix pour tester des dispositifs semi-conducteurs à haut volume.
Il n'y a pas encore de critiques