Occasion ADVANTEST T 5376 #293738676 à vendre en France

ADVANTEST T 5376 est un équipement D'essai Final extrêmement avancé conçu à l'essai ultrarapide de composantes différentes. Il s'agit d'une cellule de test automatisée tout-en-un pour DDR, Flash, DRAM, SRAM et d'autres types de produits semi-conducteurs. Les composantes de système d'unité d'ADVANTEST T5376 incluent un ordinateur central, l'Unité de Contrôle de Multicadre (MCU), Tape File Server (TFS), le Maître de Lit D'essai, Probe Interface Unit (PIU) et Network Interface Unit (NIU). L'ordinateur central se compose de deux parties principales : la Machine Controller Unit (SCU) et un Mass Memory Storage (MMS). Le stockage de mémoire de masse contient le logiciel Multi-Component Setup (MCS), qui est utilisé pour configurer et programmer l'outil de test. L'unité de contrôle multi-cadres (MCU) est utilisée pour contrôler les différents bancs d'essai. Il comprend trois noyaux distincts et est responsable de l'essai automatique des composants en contrôlant leurs mouvements, leur alimentation/coupure, les niveaux de courant et de tension ainsi que leurs connexions. Le maître de lit d'essai est utilisé pour synchroniser et contrôler les différents lits d'essai dans l'actif T 5376. Il communique avec le PIU et le Test Bed Master Module connecté au MCU. Le Probe Interface Unit (PIU) est utilisé pour collecter et gérer toutes les mesures et fournir une interface entre le banc d'essai et le contrôleur de modèle. Le PIU est responsable du traitement rapide des données et peut être mis à niveau en utilisant différents types de cartes de sonde. L'unité d'interface réseau (NIU) est utilisée pour se connecter au réseau local et assure la communication entre les stations d'essai et d'autres systèmes d'essai. Enfin, un TFS (Tape File Server) est connecté à la station de test et est chargé de stocker les résultats des tests. En résumé, T5376 Final Test Equipment est une cellule d'essai automatisée tout-en-un spécialement conçue pour l'essai à grande vitesse des composants. Ses performances sont optimisées grâce à l'utilisation d'un SCU efficace, de l'unité de contrôle multi-trames, d'un maître de lit de test et d'une unité d'interface réseau. De plus, ses performances peuvent être affinées et mises à niveau facilement en utilisant différents types de cartes à sonde.