Occasion ADVANTEST T 5377S #293764489 à vendre en France
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ID: 293764489
Memory tester
Missing Hard Disk Drive (HDD)
(20) WBL-PS11V68A SUB ACC
(4) SHINWA CH7-H1-D1 Cooling units
(6) CALSIG
PPS
Work station:
(4) WBL-029065 TPRCPU
(4) DC
WBL-H3610027TP6A TP6A
DPU I/F
PSMON I/F
LG FLATRON E1910P-BN Monitor
Main frame:
(22) PGFM
(14) WBL-PS3750WX02 MAIN ACC
Test head 1:
(4) DR PE
(16) I/O PE
(16) PPS
(6) CALSIG
Test head 2:
(4) DR PE
(16) I/O PE.
ADVANTEST T LES 5377 est un extrêmement fiable, un efficace et exactement l'exécution du système d'essai final conçu aux applications multiples et à l'essai de défaut. Son architecture de 24 étages prend en charge les configurations évolutives des boîtiers de test, permettant des systèmes de test automatisés pour toute exigence de test. Il offre une capacité de mesure avancée, avec flux de données pour permettre un traitement en temps réel pour augmenter le débit. ADVANTEST T5377S utilise son GUI intuitif (l'Interface d'Utilisateur Graphique) pour simplifier le processus d'essai. Le système prend en charge la collecte de données, permettant de stocker facilement les données dans des formats standard. Ses architectures de numérisation polyvalentes sont créées avec un maximum de 32 bits pour le streaming de données. T 5377 S CPU fonctionne avec jusqu'à quatre processeurs 32 bits et jusqu'à 8 gigaoctets de mémoire, fournissant des ressources adéquates pour les tests automatisés. T 5377S fournit des mesures de haute précision grâce à ses technologies avancées d'étalonnage et de mesure avec des capteurs embarqués. Ses options d'étalonnage avancées permettent un étalonnage rapide et facile pour les opérations de balayage à grande vitesse et d'essais parallèles. Il est conçu avec des algorithmes avancés de diagnostic et de détection des défauts pour identifier rapidement les puces défectueuses individuelles. T5377S comprend un puissant réseau de conditionneurs de signaux (SCs), de générateurs d'horloge (CG) et de sondes, qui sont tous synchronisés sur le contrôleur de la série T 5377 du système de contrôle de l'environnement. Le système peut mesurer diverses structures de test du silicium, y compris le test de la région du transistor, l'optimisation des paramètres secondaires et la caractérisation complète. Il a également une routine d'identification complète pour identifier rapidement l'information de décès. Le système de calcul T 5377S comprend également un moteur d'analyse de données en temps réel pour le calcul rapide des résultats. Il dispose d'une technologie de conditionnement du signal à haut débit pour réduire le temps d'essai. Ses techniques d'autodiagnostic permettent de détecter toute irrégularité dans les signaux et les erreurs afin d'obtenir des résultats précis. Il contient également une capacité de traçage du signal pour suivre les performances au niveau du signal et résoudre les échecs d'essai. ADVANTEST T5377S est extrêmement fiable et offre une gamme complète et complète d'essai multid'application et de capacités d'analyse de défaut. Il fournit aux clients d'excellents tests de durée de vie des produits et élimine le besoin de configuration manuelle des cellules de test. Ses technologies avancées d'étalonnage et de mesure, son support de test multi-applications, ses capteurs embarqués et ses capacités d'analyse de données en temps réel le rendent idéal pour une variété de systèmes de test final.
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