Occasion ADVANTEST T 5581 P #293643267 à vendre en France
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
L « équipement d » essai final de la série T 5581 P est un équipement complet conçu pour la production de dispositifs à circuit intégré à semi-conducteur (IC). Ce système est conçu pour tester complètement les éléments logiques et leur interconnexion afin de s'assurer que chaque IC est pleinement fonctionnel avant son expédition. Il offre une flexibilité maximale avec une large gamme de capacités de test. ADVANTEST T5581P utilise Scan Detect Evaluate (SDE) la stratégie Macro de contrôler le processus d'essai. Cette stratégie comprend le balayage des signaux d'entrée, l'évaluation des signaux et la détection des défauts. Cette unité vérifiera toutes les broches du dispositif CI et évaluera les signaux pour s'assurer que le dispositif répond aux spécifications souhaitées. La stratégie SDE Macro permet une approche rapide, précise et programmée pour tester l'appareil IC d'une manière à la fois peu coûteuse et fiable. T 5581P la machine utilise tant l'essai de cœur fixé de niveau de la gaufrette que l'essai de logique numérique pour évaluer ICs de géométrie différente et de types. Il soutient également la production de tests de conception numérique avec jusqu'à 26 millions de bascules, grâce à sa technologie de test avancée. En outre, l'outil supporte les capacités d'émulation de défaut et de classement de défaut, ainsi que les wafers étendus et l'indépendance de défaut de fond. L'architecture d'affichage et de contrôle a été conçue pour permettre une localisation précise des défauts. Il offre une fonctionnalité intégrée qui permet aux utilisateurs d'isoler rapidement les emplacements de défaut sur les appareils CI fabriqués. Il dispose également d'une architecture de test multi-failles qui effectue des tests de diagnostic de fautes pour identifier rapidement et avec précision les fautes dans les IC. T 5581 P fournit également des capacités de programmation et de contrôle qui sont essentielles pour le test de production. Il prend en charge toutes les étapes du cycle de développement de l'essai, y compris l'élaboration du programme, l'optimisation des procédures d'essai et la caractérisation et l'étalonnage des appareils d'IC. De plus, il est possible de créer des suites de programmes adaptées à des types d'appareils spécifiques et de développer des tests personnalisés à chaque produit. Le test T 5581P est un atout automatisé qui permet les niveaux les plus élevés de précision et de répétabilité des tests. Il comprend une variété d'architectures de test, d'outils et de stratégies de test pour répondre aux besoins des tests de production les plus exigeants. Ce modèle garantit que chaque appareil IC est entièrement testé et fonctionnel avant d'être expédié. C'est une solution idéale pour la production d'IC complexes et performants.
Il n'y a pas encore de critiques